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[한국특허] 감마선 검출 장치 및 이를 이용한 감마선 검출 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • A61B-006/00
출원번호 10-2011-0033085 (2011-04-11)
공개번호 10-2012-0115648 (2012-10-19)
등록번호 10-1206005-0000 (2012-11-22)
DOI http://doi.org/10.8080/1020110033085
발명자 / 주소
  • 김찬형 / 서울특별시 도봉구 도봉로***나길 **, 양우아파트 ***동 ***호 (도봉동)
  • 박진형 / 서울특별시 성동구 마조로**길 **, ***호 (행당동)
  • 서희 / 경기도 평택시 신장*동 ***
출원인 / 주소
  • 한양대학교 산학협력단 / 서울 성동구 행당동 ** 한양대학교 내
대리인 / 주소
  • 한승범; 유병욱
심사청구여부 있음 (2011-04-11)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

입사된 감마선이 컴프턴 산란 반응을 일으키고 상기 감마선의 진행 방향으로 이차 전자를 발생시키는 이차 전자 방출기, 상기 이차 전자의 방출 진행 방향에 대향되고, 상기 이차 전자의 위치 및 전달에너지를 검출하는 제1 방사선 검출기, 상기 이차 전자의 방출 진행 방향 및 상기 제1 방사선 검출기에 대향되며, 상기 제1 방사선 검출기를 통과한 상기 이차 전자의 위치 및 전달에너지를 검출하는 제2 방사선 검출기, 상기 이차 전자의 방출 진행 방향 및 상기 제2 방사선 검출기에 대향되고, 상기 제2 방사선 검출기를 통과한 상기 이차 전자를

대표청구항

입사된 감마선이 컴프턴 산란 반응을 일으키고 상기 감마선의 진행 방향으로 이차 전자를 발생시키는 이차 전자 방출기;상기 이차 전자의 방출 진행 방향에 대해 상기 이차 전자 방출기에 대향되고, 상기 이차 전자의 위치 및 전달에너지를 검출하는 제1 방사선 검출기;상기 이차 전자의 방출 진행 방향에 대해 상기 제1 방사선 검출기에 대향되며, 상기 제1 방사선 검출기를 통과한 상기 이차 전자의 위치 및 전달에너지를 검출하는 제2 방사선 검출기; 상기 이차 전자의 방출 진행 방향에 대해 상기 제2 방사선 검출기에 대향되고, 상기 제2 방사선

발명자의 다른 특허 :

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. [한국] 방사선원의 3차원 영상 처리 장치 및 방법 | 김기현, 박문규, 정해용, 정우식, 박창제
  2. [한국] 3차원 산란 방사선 영상장치 및 이를 갖는 방사선 의료장비 | 이원호, 이태웅
  3. [한국] 감마선 검출 장치 및 방법 | 박종훈, 김찬형, 이한림, 김성훈
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