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평판 패널 검사방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • G01N-021/956
  • G01B-011/30
  • G02F-001/13
출원번호 10-2011-0093102 (2011-09-15)
공개번호 10-2013-0029682 (2013-03-25)
등록번호 10-1306289-0000 (2013-09-03)
DOI http://doi.org/10.8080/1020110093102
발명자 / 주소
  • 손재호 / 광주광역시 북구 서암대로**번길 *, ***동 ****호 (신안동, 한국하이빌)
  • 이현민 / 대전광역시 유성구 송강로**번길 **, ***동 ***호 (송강동, 청솔아파트)
  • 강민구 / 대전광역시 유성구 어은로 **, ***동 ****호 (어은동, 한빛아파트)
  • 이상윤 / 대전광역시 유성구 관평동 테크노밸리 쌍용아파트 ***-****
  • 임쌍근 / 대전광역시 서구 만년로 **, ***동 ***호 (만년동, 강변아파트)
출원인 / 주소
  • (주) 인텍플러스 / 대전광역시 유성구 테크노*로 *** (탑립동)
대리인 / 주소
  • 특허법인 신지
심사청구여부 있음 (2011-09-15)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

평판 패널을 검사하는 방법을 개시한다.평판 패널 검사방법은, 평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 카메라를 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계; 측정 위치에서 평판 패널의 피측정물에 대해 카메라의 초점을 자동으로 맞추는 단계; 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 상하 이동시켜가며 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및 획득된 다수의 영상 중 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 피측정물의 불량 여부를 판별하는 단계

대표청구항

평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 상기 카메라를 상기 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계;상기 측정 위치에서 상기 평판 패널의 피측정물에 대해 상기 카메라의 초점을 자동초점 모듈에 의해 자동으로 맞추는 단계; 상기 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 상기 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 압전 액추에이터에 의해 상하 이동시켜가며 상기 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및획득된 다수의 영상 중 상기 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 상기 피

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. [일본] IMAGE ACQUISITION APPARATUS | NAKANISHI MINORU
  2. [한국] 전자부품 검사 방법과 이에 이용되는 장치 | 츠다 도요히코, 장 츈셩, 고토 사토시, 궈 웨이홍
  3. [일본] PATTERN INSPECTING APPARATUS | SUGIHARA SHINJI, TABATA MITSUO, TSUCHIYA HIDEO, SANADA YASUSHI

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 실공간 영상 기반 광 산란 분석 장치 | 윤범진, 홍성제, 곽민기, 조현민, 김영석, 김민선, 김종웅, 김영민
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