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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2011-0093102 (2011-09-15) | |
공개번호 | 10-2013-0029682 (2013-03-25) | |
등록번호 | 10-1306289-0000 (2013-09-03) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020110093102 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2011-09-15) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
평판 패널을 검사하는 방법을 개시한다.평판 패널 검사방법은, 평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 카메라를 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계; 측정 위치에서 평판 패널의 피측정물에 대해 카메라의 초점을 자동으로 맞추는 단계; 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 상하 이동시켜가며 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및 획득된 다수의 영상 중 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 피측정물의 불량 여부를 판별하는 단계
평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 상기 카메라를 상기 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계;상기 측정 위치에서 상기 평판 패널의 피측정물에 대해 상기 카메라의 초점을 자동초점 모듈에 의해 자동으로 맞추는 단계; 상기 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 상기 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 압전 액추에이터에 의해 상하 이동시켜가며 상기 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및획득된 다수의 영상 중 상기 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 상기 피
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