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연합인증

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[한국특허] CSEOF를 이용한 입자 생성 및 성장 현상 판독 방법
New particle formation identifying method using CSEOF
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IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC9판)
  • G01N-015/02
  • G01N-015/14
  • G01N-021/25
출원번호 10-2011-0144638 (2011-12-28)
등록번호 10-1156104-0000 (2012-06-07)
DOI http://doi.org/10.8080/1020110144638
발명자 / 주소
  • 윤순창 / 서울특별시 관악구 관악로 * 서울대학교 지구환경과학부 ***동 ***호
  • 김상우 / 서울특별시 관악구 관악로 * 서울대학교 지구환경과학부 ***동 ***호
  • 김유미 / 서울특별시 관악구 관악로 * 서울대학교 지구환경과학부 ***동 ***호
  • 김광열 / 서울특별시 관악구 관악로 * 서울대학교 지구환경과학부 ***동 ***호
출원인 / 주소
  • 서울대학교산학협력단 / 서울특별시 관악구 관악로 * (신림동)
대리인 / 주소
  • 최병길; 이익상
심사청구여부 있음 (2011-12-28)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은 CSEOF를 이용한 입자 생성 및 성장 현상 판독 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 Scanning Mobility Partice Sizer(SMPS)를 통해 관측한 대기 중 에어로졸 입경별 수농도 측정 자료에서 입자 생성 및 성장 현상을 관찰자 주관적인 방법이 아닌 Cyclostationary Empirical orthogonal function(CSEOF) 분석 방법을 이용하여 객관적으로 판독해 낼 수 있도록 한 CSEOF를 이용한 입자 생성 및 성장 현상 판독 방법에 관한 것이다.이를 위해, SMPS(Scann

대표청구항

SMPS(Scanning Mobility Particle Sizer)를 통해 대기중의 에어로졸을 사이즈로 나누고, 사이즈별로 에어로졸 개수를 파악하는 에어로졸 측정 단계;상기 SMPS를 통해 측정된 에어로졸 원시 자료(raw data) N을 표준화된 수농도(dN, dlogP)로 변환하는 데이터 표준화 단계;표준화된 자료 중에서, SMPS의 오류 등의 원인에 의해 분석에 필요 없는 데이터를 걸러내는 데이터 제거단계;SMPS로부터 관측된 자료에 대하여 1시간 동안의 데이터로 취합하는 데이터 취합단계;SMPS에 의한 관측이 24시간 동안

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