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| 국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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| 국제특허분류(IPC9판) |
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| 출원번호 | 10-2012-0002303 (2012-01-09) | |
| 공개번호 | 10-2013-0081375 (2013-07-17) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020120002303 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사청구여부 | 있음 (2012-01-09) | |
| 심사진행상태 | 거절결정(일반) | |
| 법적상태 | 거절 |
본 발명은 단층 구조의 그래핀 뿐 아니라 그래핀 적층된 플레이크에 대해서도 고가의 장비를 사용하지 않더라도 간단한 방법으로 그래핀의 가장자리 구조 및 격자방향을 분석할 수 있는 결정구조 분석방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 (A) 기판 상에 그래핀 샘플을 부착하는 단계; (B) 상기 기판과 소정의 간격을 갖도록 배향막을 갖는 기판을 적층하고 액정 물질을 주입하여 액정 셀을 제조하는 단계; (C) 상기 액정의 방향자와 그래핀 격자방향의 상관관계를 설정하는 단계; 및 (D) 상기 액정 셀의 텍스쳐를 관측하여 액정의 방향자를 결정하고
(A) 기판 상에 그래핀 샘플을 부착하는 단계;(B) 상기 기판과 소정의 간격을 갖도록 배향막을 갖는 기판을 적층하고 액정 물질을 주입하여 액정 셀을 제조하는 단계; (C) 상기 액정의 방향자와 그래핀 격자방향의 상관관계를 설정하는 단계; 및 (D) 상기 액정 셀의 텍스쳐를 관측하여 액정의 방향자를 결정하고 방향자로부터 그래핀의 가장자리 구조 및 격자방향을 결정하는 것을 특징으로 하는 그래핀 결정구조 분석방법.
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