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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2012-0050704 (2012-05-14) |
등록번호 | 10-1175594-0000 (2012-08-14) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020120050704 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2012-05-14) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 등록 |
샘플분석용 칩이 개시된다. 본 발명의 일 실시 예에 의한 샘플분석용 칩에 따르면, 미세채널 상의 처짐이 발생하여 채널의 상하구조물이 붙어버리는 현상을 방지하고, 표적물의 측정 시간 내에 샘플이 말라버리는 문제점을 해결할 뿐만 아니라, 미세채널 가운데 부분의 버블 발생을 억제할 수 있다.
상판과 하판이 접합되어 그 사이에 형성되고, 미세기둥과 버블방지용 채널을 갖는 미세채널;상기 미세채널 일측에 구비되며, 투입된 샘플의 유동과 유속의 조절 및 상기 샘플이 마르는 것을 지연시키기 위한 제1 오목부를 갖는 유입부; 및상기 미세채널 타측에 구비되어 상기 미세채널로부터 상기 샘플이 흘러나오고, 상기 샘플이 마르는 것을 지연시키기 위한 제2 오목부를 갖는 배출부;를 포함하는 샘플분석용 칩.
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