초록 ▼

본 발명은 열전도도 측정 장비에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 비파괴형식으로 복합 고분자 재료의 열전도도 특성을 측정할 수 있는 열전도도 측정 장비에 관한 것이다. 본 발명은, 시료의 분자 열전도도를 측정하도록 시료의 어느 한 지점을 가열하는 가열부재; 상기 가열된 위치의 활성화된 분자 구조를 측정하도록 빛을 출사하는 광원; 상기 광원에서 출사된 빛의 볼륨을 조절하는 공초점 조리개; 상기 공초점 조리개를 통과한 빛을 반사 및 통과시키는 빔 스플리터; 상기 빔 스플리터를 통해 반사되는 빛을 가열된 위치로 집광하는 집광렌즈; 그리고 상

본 발명은 열전도도 측정 장비에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 비파괴형식으로 복합 고분자 재료의 열전도도 특성을 측정할 수 있는 열전도도 측정 장비에 관한 것이다. 본 발명은, 시료의 분자 열전도도를 측정하도록 시료의 어느 한 지점을 가열하는 가열부재; 상기 가열된 위치의 활성화된 분자 구조를 측정하도록 빛을 출사하는 광원; 상기 광원에서 출사된 빛의 볼륨을 조절하는 공초점 조리개; 상기 공초점 조리개를 통과한 빛을 반사 및 통과시키는 빔 스플리터; 상기 빔 스플리터를 통해 반사되는 빛을 가열된 위치로 집광하는 집광렌즈; 그리고 상기 시료의 가열된 위치에서 반사되어 돌아오는 빛을 검출하는 광 검출기; 를 포함할 수 있다.

대표청구항

시료의 분자 열전도도를 측정하도록 시료의 어느 한 지점을 가열하는 가열부재;상기 가열된 위치의 활성화된 분자 구조를 측정하도록 빛을 출사하는 광원;상기 광원에서 출사된 빛의 볼륨을 조절하는 공초점 조리개;상기 공초점 조리개를 통과한 빛을 반사 및 통과시키는 빔 스플리터;상기 빔 스플리터를 통해 반사되는 빛을 가열된 위치로 집광하는 집광렌즈; 그리고상기 시료의 가열된 위치에서 반사되어 돌아오는 빛을 검출하는 광 검출기; 를 포함하는 열전도도 측정 장비.

시료의 분자 열전도도를 측정하도록 시료의 어느 한 지점을 가열하는 가열부재;상기 가열된 위치의 활성화된 분자 구조를 측정하도록 빛을 출사하는 광원;상기 광원에서 출사된 빛의 볼륨을 조절하는 공초점 조리개;상기 공초점 조리개를 통과한 빛을 반사 및 통과시키는 빔 스플리터;상기 빔 스플리터를 통해 반사되는 빛을 가열된 위치로 집광하는 집광렌즈; 그리고상기 시료의 가열된 위치에서 반사되어 돌아오는 빛을 검출하는 광 검출기; 를 포함하는 열전도도 측정 장비.