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[한국특허] 카메라 렌즈 모듈 이물 검사 시스템
PARTICLE INSPECTING SYSTEM FOR CAMERA LENS MODULE
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IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01N-021/958
  • G01M-011/00
출원번호 10-2013-0052483 (2013-05-09)
등록번호 10-1416860-0000 (2014-07-02)
DOI http://doi.org/10.8080/1020130052483
발명자 / 주소
  • 유상일 / 경기 안양시 동안구 학의로 ***, ***호 (관양동, 안양메가밸리)
  • 이익희 / 경기 안양시 동안구 학의로 ***, ***호 (관양동, 안양메가밸리)
출원인 / 주소
  • 한국영상기술(주) / 경기도 안양시 동안구 학의로 ***, ***호 (관양동, 안양메가밸리)
대리인 / 주소
  • 특허법인세신
심사청구여부 있음 (2013-05-09)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명의 카메라 렌즈 모듈 이물 검사 시스템은, 검사 대상이 되는 렌즈 모듈을 적재하고 소정의 이물 검사 위치로 이송하는 검사전 적재부와; 이물 검사 위치로 이송된 렌즈 모듈의 적어도 IR 차단 필터의 양쪽면과 접안 렌즈의 양쪽면에서 이물의 부착 여부를 검사하는 이물 검사부와; 검사가 완료된 렌즈 모듈을 이송하여 적재하는 검사후 적재부를 포함하고, 상기 이물 검사부는, IR 차단 필터의 바깥면에 대하여 제1 조명광을 방출하고 반사되는 제1 조명광을 수집하여 제1 이물 영상을 생성하는 반사식 검사 모듈과; 렌즈 모듈의 대물 렌즈에

대표청구항

대물 렌즈와 접안 렌즈와 IR 차단 필터가 배치된 렌즈 모듈의 적어도 상기 IR 차단 필터의 양쪽면과 상기 접안 렌즈의 양쪽면에서의 이물 부착 여부를 검사하기 위한 카메라 렌즈 모듈 이물 검사 시스템으로서:검사 대상이 되는 상기 렌즈 모듈을 적재하고 소정의 이물검사위치로 이송하는 검사전 적재부와;상기 이물검사위치로 이송된 상기 렌즈 모듈의 적어도 상기 IR 차단 필터의 양쪽면과 상기 접안 렌즈의 양쪽면에서 이물의 부착 여부를 검사하는 이물 검사부와;검사가 완료된 상기 렌즈 모듈을 이송하여 적재하는 검사후 적재부를 포함하고,상기 이물

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