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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2013-0055232 (2013-05-15) | |
공개번호 | 10-2014-0135018 (2014-11-25) | |
등록번호 | 10-1497208-0000 (2015-02-23) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020130055232 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2013-05-15) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 금속 나노 입자를 이용하는 탐침 증강 라만 분광 시스템 및 이를 이용하는 현미경과 그 측정 방법을 제공한다.현미경은 피측정물에 근접하여 배치되며 금속 첨단을 구비한 탐침; 상기 탐침으로 광을 조사하는 광원; 상기 피측정물의 상면 또는 하면에 분산되어 상기 탐침과의 사이에서 상기 광에 의한 전자기장을 증강시키는 금속 나노 입자, 또는 상기 탐침에 근접하여 배치되어 상기 탐침과의 사이에서 전자기장을 증강시키는 보조 탐침; 상기 피측정물로부터 방사되는 신호를 수집하는 집광부; 상기 수집된 신호의 라만 스펙트럼을 검출하는 검출부
탐침 증강 라만 분광 시스템에 있어서,피측정물이 배치되는 스캐닝 기판;상기 피측정물 안으로 소멸파를 생성하게 하는 광원과 광경로조정부;상기 피측정물에 근접하여 배치되며 금속 첨단을 구비한 탐침; 및상기 피측정물의 상면 또는 상기 스캐닝 기판의 상면에 분산되어 배치되는 하나 이상의 금속 나노 입자;를 포함하는 라만 분광 시스템.
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