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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2013-7032450 (2013-12-06) | |
공개번호 | 10-2014-0038448 (2014-03-28) | |
등록번호 | 10-1614196-0000 (2016-04-14) | |
우선권정보 | 일본(JP) JP-P-2011-133104 (2011-06-15) | |
국제출원번호 | PCT/JP2012/064219 (2012-05-31) | |
국제공개번호 | WO 2012/173002 (2012-12-20) | |
번역문제출일자 | 2013-12-06 | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020137032450 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2014-04-17) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명의 측정 대상 물질 측정 방법은 평균 입자 직경이 1 ∼ 15 ㎚ 인 초상자성 금속 산화물을 60 ∼ 95 중량% 함유하는 실리카 입자의 표면에 측정 대상 물질, 측정 대상 물질의 유사 물질 또는 측정 대상 물질과 특이적으로 결합되는 물질이 고정화된 자성 실리카 입자를 사용하여 시료 중의 측정 대상 물질을 측정하는 것을 특징으로 한다.
평균 입자 직경이 1 ∼ 15 ㎚ 인 초상자성 금속 산화물을 60 ∼ 95 중량% 함유하는 실리카 입자의 표면에 측정 대상 물질, 측정 대상 물질의 유사 물질 또는 측정 대상 물질과 특이적으로 결합되는 물질이 고정화된 자성 실리카 입자를 사용하여 시료 중의 측정 대상 물질을 측정하는 것을 특징으로 하는 측정 대상 물질 측정 방법으로서, 하기 i), ii) 및 iii) 중 어느 하나의 측정 방법을 따르는 방법:i) 상기 자성 실리카 입자가 측정 대상 물질과 특이적으로 결합되는 물질 (측정 대상 물질 결합 물질) 을 그 표면에 고정화시
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