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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2014-0030390 (2014-03-14) | |
등록번호 | 10-1546611-0000 (2015-08-17) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020140030390 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2014-03-14) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 산화물 반도체용 폐타겟 및 스크랩에 함유되어 있는 인듐 및 갈륨을 추출하여 고순도 갈륨 산화물을 회수하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 IGZO 타겟 스크랩을 산 용해시킨 후 알칼리 환원을 통해 인듐을 수산화물 형태로 분리시키고, 남은 여액을 산을 통한 pH조절로 갈륨을 분리한 후 정제 과정을 통해 산화물 반도체용 타겟 소재에 적용할 수 있는 고순도 갈륨 산화물을 제조하는 신규 방법에 관한 것이다.
산화물 폐타겟의 습식 회수를 통한 산화물 반도체용 고순도 산화갈륨의 제조방법으로서, (a) InGaZnO(IGZO) 산화물 폐타겟을 산 용액으로 용해시키는 단계;(b) In, Ga, 및 Zn을 함유하는 산 용액에 알칼리 용액을 첨가한 후 환원 침전시켜 수산화인듐(In)을 분리하는 단계;(c) Ga 및 Zn 을 함유하는 여액(餘液)에 산 첨가로 pH 조절하여 수산화갈륨(Ga)을 분리 및 회수하는 단계;(d) 회수된 수산화갈륨(Ga)을 산에 재용해시킨 후 pH 조절을 통해 환원 침전시켜 고순도 수산화갈륨을 재결정 및 정제하는 단계(e)
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