최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
---|---|---|
국제특허분류(IPC8판) |
|
|
출원번호 | 10-2015-0079684 (2015-06-05) | |
등록번호 | 10-1677370-0000 (2016-11-11) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020150079684 | |
발명자 / 주소 |
|
|
출원인 / 주소 |
|
|
대리인 / 주소 |
|
|
심사청구여부 | 있음 (2015-06-05) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명의 DWTT 시험 파면율 자동 평가장치는 시험편을 지지하는 시험편 지지대; 상기 시험편에 조명을 제공하는 조명부; 상기 조명의 밝기에 따른 시험편의 표면 영상을 촬영하는 촬영부; 상기 시험편의 길이방향에 대한 밝기값 프로파일을 이용하여 상기 표면 영상으로부터 노치 영역을 추출한 후, 상기 노치 영역의 GLCM(Gray-level co-occurrence matrix)을 산출하고, 상기 노치 영역의 GLCM(Gray-level co-occurrence matrix)의 적어도 하나 이상의 특징값들을 이용하여 상기 시험편의 연성
시험편을 지지하는 시험편 지지대;상기 시험편에 조명을 제공하는 조명부; 상기 조명의 밝기에 따른 상기 시험편의 표면 영상을 촬영하는 촬영부;상기 시험편의 길이방향에 대한 밝기값 프로파일을 이용하여 상기 표면 영상으로부터 노치 영역을 추출한 후, 상기 노치 영역의 GLCM(Gray-level co-occurrence matrix)을 산출하고, 상기 노치 영역의 GLCM(Gray-level co-occurrence matrix)의 적어도 하나 이상의 특징값들을 이용하여 상기 시험편의 연성 영역 및 취성 영역을 판별한 후, 상기 표면 영
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.