초록

본 발명은 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 커버의 이동에 따른 힘이 래치 시스템에 용이하게 전달되어 힘 낭비가 감소하는 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것이다.

대표청구항 ▼

상하 방향으로 관통되는 중심 수납구를 갖는 사각형의 베이스;상기 베이스의 중심 수납구에 삽입되며 상부에 반도체 칩이 실장될 수 있는 어댑터;상기 베이스의 상부에 결합하되 상기 베이스에 대해 상하 방향으로 이동 가능하게 결합하며 반도체 칩이 삽입되도록 개구부를 갖는 커버;상기 베이스와 상기 커버 사이에 배치되며 상기 베이스와 상기 커버 사이에 탄성을 가하는 스프링;상기 커버의 상하이동에 따라서 열린 위치 또는 닫힌 위치로 이동할 수 있는 래치 시스템;을 포함하며,상기 래치 시스템은, 상기 커버가 상기 스프링에 의해서 탄성을 받아서 상

상하 방향으로 관통되는 중심 수납구를 갖는 사각형의 베이스;상기 베이스의 중심 수납구에 삽입되며 상부에 반도체 칩이 실장될 수 있는 어댑터;상기 베이스의 상부에 결합하되 상기 베이스에 대해 상하 방향으로 이동 가능하게 결합하며 반도체 칩이 삽입되도록 개구부를 갖는 커버;상기 베이스와 상기 커버 사이에 배치되며 상기 베이스와 상기 커버 사이에 탄성을 가하는 스프링;상기 커버의 상하이동에 따라서 열린 위치 또는 닫힌 위치로 이동할 수 있는 래치 시스템;을 포함하며,상기 래치 시스템은, 상기 커버가 상기 스프링에 의해서 탄성을 받아서 상부에 위치하면 상기 어댑터 상에 실장된 반도체 칩을 가압하여 지지하는 닫힌 위치에 위치하며, 외력에 의해 상기 커버가 하방향으로 이동하면 상기 개구부를 통해 반도체 칩이 노출되도록 하는 열린 위치에 위치하되,상기 베이스는,가이드 레일 홀이 형성된 복수 개의 래치 홀더를 구비하며, 상기 래치 시스템은,상기 래치 시스템을 상기 커버에 대해 회동 가능하게 연결시키도록 양측방향으로 돌출되는 커버 샤프트, 및 상기 커버 샤프트와 소정 거리 이격된 위치에 구비되어 상기 커버 샤프트에 평행하게 양측방향으로 돌출되며 상기 가이드 레일 홀에 삽입되는 가이드 샤프트를 포함하며,상기 래치 시스템은 상기 커버의 상하 이동에 따라서 상기 커버 샤프트를 중심으로 회동하되 상기 가이드 샤프트가 상기 가이드 레일 홀을 따라서 이동함으로써 상기 래치 시스템의 열린 위치와 닫힌 위치 사이의 이동이 상기 가이드 레일 홀을 따라서 안내되는 반도체 칩 테스트 소켓.