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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2015-0096728 (2015-07-07) | |
공개번호 | 10-2017-0006180 (2017-01-17) | |
등록번호 | 10-1765563-0000 (2017-08-01) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020150096728 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2015-07-07) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 소멸 |
본 발명의 일 실시예에 따른 광센서 측정값의 보정 방법은, 광센서에 의해 측정된 균일한 광원의 광세기값에 기초하여, 상기 광센서의 픽셀들 중 불량픽셀을 결정하는 제1단계; 및 상기 광센서에 의해 측정된 발광장치의 광세기값들 중 상기 제1단계에서 불량픽셀로 결정된 픽셀의 측정값을 보정하는 제2단계;를 포함한다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광센서 측정값의 노이즈 제거 방법은, 광센서에 의해 측정된 광세기값들을 입력받는 단계; 및 입력받은 광세기값들 중 상기 광센서 내의 복수의 픽셀에 의해 측정된 광세기값들을 평균화 또는 합산하
광센서에 의해 측정된 균일한 광원의 광세기값에 기초하여, 상기 광센서의 픽셀들 중 불량픽셀을 결정하는 제1단계; 및상기 광센서에 의해 측정된 발광장치의 광세기값들 중 상기 제1단계에서 불량픽셀로 결정된 픽셀의 측정값을 보정하는 제2단계;를 포함하되,상기 제1단계는,상기 광센서에 의해 측정된 균일한 광원의 광세기값의 평균을 계산하는 단계;상기 광센서의 측정값에서 상기 평균을 빼서 얻어지는 편차를 각 픽셀에 대하여 계산하는 단계;상기 편차에 기초하여 상기 불량픽셀을 결정할 양의 편차 및 음의 편차에 대한 기준값을 각각 결정하는 단계;상
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