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| 국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2015-0117161 (2015-08-20) | |
| 등록번호 | 10-1684442-0000 (2016-12-02) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020150117161 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사청구여부 | 있음 (2015-08-20) | |
| 심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
| 법적상태 | 등록 |
본 발명은 특허와 관련된 정보를 계량화하여 신속하고 정확한 분석이 가능하게 하기 위함이다. 이를 위해 본 발명은, 적어도 하나 이상의 데이터베이스로부터 데이터들을 입력받는 단계; 상기 입력된 데이터들로부터 유사도 판단의 기준이 되는 적어도 하나 이상의 유사도정보를 추출하는 단계; 상기 추출된 적어도 하나 이상의 유사도정보들 중 제1의 유사도정보 및 제2의 유사도정보를 이용하여 유사도계수를 구하는 단계; 상기 제1의 유사도정보를 이용하여 유사도계수를 구하는 단계; 상기 제2의 유사도정보를 이용하여 유사도계수를 구하는 단계; 상기 구한
입력모듈이 적어도 하나 이상의 데이터베이스로부터 데이터들을 입력받는 단계; 유사도정보추출모듈이 상기 입력된 데이터들로부터 유사도 판단의 기준이 되는 복수의 유사도정보들을 추출하는 단계; 제3유사도모듈이 상기 추출된 복수의 유사도정보들 중 제1의 유사도정보 및 제2의 유사도정보를 이용하여 제3의 유사도계수를 계산하는 단계; 제1유사도모듈이 상기 제1의 유사도정보를 이용하여 제1의 유사도계수를 계산하는 단계; 제2유사도모듈이 상기 제2의 유사도정보를 이용하여 제2의 유사도계수를 계산하는 단계; 최대값추출모듈이 상기 계산된 유사도계수들
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