초록

본 발명은 대상 기술이 포함된 분야의 특허를 수집하는 데이터 수집 모듈, 수집한 특허를 구조화하는 데이터 전처리 모듈, 특허에서 기술 수명 주기 분석을 위한 시계열 특허지수를 정의하고 추출하는 특허지수 추출 모듈, 대상 기술이 현재 속해 있는 기술 수명 주기의 진행 단계를 측정하는 분석 모듈을 포함하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치에 관한 것이다.

대표청구항 ▼

대상 기술이 포함된 분야의 특허를 수집하는 데이터 수집 모듈;상기 수집한 특허를 구조화하는 데이터 전처리 모듈;상기 특허에서 기술 수명 주기 분석을 위해, 특허 활성도(patent activity), 기술 개발자(technology developers), 기술 범위(technology scope), 사전 지식(prior knowledge), 기술 수치(technology value), 심사 과정 기간(duration of examination processes), 보호 범위(protection coverage)를 포함하는 시계열 특

대상 기술이 포함된 분야의 특허를 수집하는 데이터 수집 모듈;상기 수집한 특허를 구조화하는 데이터 전처리 모듈;상기 특허에서 기술 수명 주기 분석을 위해, 특허 활성도(patent activity), 기술 개발자(technology developers), 기술 범위(technology scope), 사전 지식(prior knowledge), 기술 수치(technology value), 심사 과정 기간(duration of examination processes), 보호 범위(protection coverage)를 포함하는 시계열 특허지수를 정의하고 추출하는 특허지수 추출 모듈;상기 대상 기술이 현재 속해 있는 기술 수명 주기의 진행 단계를 측정하기 위해, 상기 기술 수명 주기의 진행 단계를 은닉상태 집합, 관측값 집합, 상태전이확률행렬, 관측확률밀도행렬, 초기상태확률벡터를 포함하는 요소들을 이용하여 HMM(Hidden Markov Model) 방법으로 기술 수명 주기를 분석하여 기술이 다음 단계로 진행할 확률과 이전 단계로 회기할 확률의 차이를 계산하는 분석 모듈;을 포함하는 다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치.