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세라믹 기판의 비아홀 충진 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/768
  • H01L-021/02
  • H01L-021/268
  • H01L-021/285
  • H01L-021/288
  • H01L-021/48
출원번호 10-2016-0027539 (2016-03-08)
공개번호 10-2017-0104757 (2017-09-18)
등록번호 10-2504238-0000 (2023-02-22)
DOI http://doi.org/10.8080/1020160027539
발명자 / 주소
  • 우경환 / 경기도 용인시 기흥구 금화로**번길 **, ***동 ****호 (상갈동, 금화마을대우현대*단지아파트)
  • 박익성 / 서울특별시 관악구 관악로 ***, ***동 ****호 (봉천동, 성현동아아파트)
  • 조현춘 / 경기도 성남시 수정구 수정로 ***, ***동 ***호 (신흥동, 신흥주공아파트)
출원인 / 주소
  • 주식회사 아모센스 / 충청남도 천안시 서북구 직산읍 *산단*길 **, 천안 제*지방산업단지 **-*블럭
대리인 / 주소
  • (유)한양특허법인
심사청구여부 있음 (2021-03-05)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 세라믹 기판의 비아홀 충진 방법 및 이를 이용하여 충진된 세라믹 기판의 비아홀 충진체에 관한 것으로 세라믹 기재에 비아홀을 형성하고, 상기 비아홀 내에 도전체를 형성한 후 진공 상태에서 상기 도전체를 멜팅시키고 다시 냉각시킴으로써세라믹 기판의 비아홀을 기공없이 간단하게 도전체로 충진시킬 수 있어 세라믹 기판의 제조과정을 단순화하고, 제조 비용을 절감하며, 세라믹 기판의 작동 신뢰성을 향상시키고, 고전력 반도체 모듈에서 사용 시 안정적인 작동 신뢰성을 확보한다.

대표청구항

세라믹 기재에 비아홀을 형성하는 비아홀 형성단계;상기 비아홀 내에 도전체를 형성하는 도전체 형성단계; 및 진공 상태에서 상기 도전체를 멜팅시키고 다시 냉각시키는 진공 멜팅단계를 포함하고,상기 도전체 형성단계는, 상기 비아홀의 내주면에 물리증착법으로 제1증착 도전층과, 상기 세라믹 기재의 일면에 회로패턴 형성을 위한 제1증착 전극층을 함께 형성하는 제1증착과정;상기 비아홀의 내부에서 상기 제1증착 도전층 상에 물리증착법으로 제2증착 도전층과, 상기 제1증착 전극층 상에 회로패턴 형성을 위한 제2증착 전극층을 함께 형성하는 제2증착과정

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. [일본] MANUFACTURE OF CRYSTAL PARTS | KIZAKI SHIGERU
  2. [한국] 세라믹 배선 기판, 반도체 장치, 및 세라믹 배선 기판의 제조 방법 | 히로세 요시유키, 스기타니 사치에, 고마 노리히토, 토요시마 고헤이, 우에니시 노보루
  3. [일본] SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE | MUTA TADAYOSHI, MORIMOTO HIROYUKI, TACHIKAWA HITOSHI, TAKAYAMA MANABU, SUDO MASANORI, SAITO RIICHI
  4. [일본] BASE SUBSTRATE, ELECTRONIC DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING BASE SUBSTRATE | NAKAGAWA NAOHIRO
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