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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2016-0104528 (2016-08-17) | |
공개번호 | 10-2018-0020045 (2018-02-27) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020160104528 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사진행상태 | 취하(심사미청구) | |
법적상태 | 취하 |
본 발명은 커버 글라스의 분석 장치와 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 조명 및 카메라 판정을 이용한 디스플레이용 커버 글라스의 자동화 검사 공정에 있어서, 그 검사 전 이송되는 커버 글라스에 부착된 오염 물질을 제거하여 보다 신뢰성 높은 결함 검출이 가능한 커버 글라스 분석 장치 및 방법에 관한 것이다.본 발명은 컴퓨터 판정을 이용한, 디스플레이 장치용 커버 글라스의 자동 분석 장치에 있어서, 커버 글라스를 향해 빛을 방사하는 조명; 커버 글라스를 촬영하는 광학 센서; 커버 글라스의 이물질 제거하는 이물질 제거부;를 포함하는
커버 글라스의 자동 분석 장치에 있어서, 자동 분석 장치는:커버 글라스를 향해 빛을 방사하는 조명과; 커버 글라스를 촬영하는 광학 센서 및; 커버 글라스의 이물질 제거하는 이물질 제거부를 포함하는 것을 특징으로 하는 커버 글라스의 자동 분석 장치.
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