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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2016-0125722 (2016-09-29) | |
공개번호 | 10-2016-0140522 (2016-12-07) | |
등록번호 | 10-1813055-0000 (2017-12-21) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020160125722 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2016-09-29) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 투명 전극 박막 및 이의 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 나노 클러스터층을 포함함으로써 질화물 반도체와의 오믹접촉 형성을 위한 투명 전극 박막 및 이의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 질화갈륨 반도체의 표면에 스퍼터링 방식으로 투명 전극을 형성할 시 스퍼터링에 앞서 나노 클러스터 층을 형성함으로써, 스퍼터링에 의한 이온 데미지를 억제할 수 있어 질화물 반도체층에 우수한 오믹 접촉을 형성할 수 있다.
질화물 반도체층의 상부에 백금(Pt) 금속층을 15 Å ~ 25Å의 두께로 증착하는 1단계;상기 백금(Pt) 금속층을 질소분위기에서 700℃ ~ 800℃의 온도로 5 ~ 10 분 동안 열처리하여 금속층을 10 ~ 20nm의 높이를 가지는 나노 클러스터 층으로 변환시키는 2단계; 및상기 나노 클러스터 층의 상부에 스퍼터링 공정을 이용하여 ITO(Indium-tin oxide) 투명 전극을 형성하는 3단계; 를 포함하고,상기 나노 클러스터 층은 나노 클러스터가 형성되지 않은 빈 부분의 면적이 나노 클러스터의 면적에 대하여 20 ~ 40
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