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| 국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2016-0145221 (2016-11-02) | |
| 공개번호 | 10-2018-0048084 (2018-05-10) | |
| 등록번호 | 10-2434363-0000 (2022-08-16) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020160145221 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사청구여부 | 있음 (2020-12-29) | |
| 심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
| 법적상태 | 등록 |
본 발명은 발아율을 이용한 품질측정 시스템에 관한 것으로, 쌀 시료들이 정렬되는 시료 정렬부와, 상기 시료 정렬부상에서 쌀 시료들에 자외선, 가시광 및 근적외선 대역의 파장범위를 갖는 광을 조사하는 하나 이상의 광원과, 상기 광원에서 조사된 광이 쌀 시료들에 의해 반사되어 나오는 서로 다른 대역의 반사광 스펙트럼을 검출하기 위한 센서들을 포함하는 분광 측정부와, 상기 센서들로부터 출력되는 반사광 스펙트럼을 비교 분석하여 발아율 측정정도를 높이기 위하여 측정된 발아율 데이터를 이치화하여 발아율을 예측하는 발아율 예측부와, 발아율(x1
쌀 시료들이 정렬되는 시료 정렬부와;상기 시료 정렬부상에서 쌀의 발아율을 측정하기 위하여 시료들에 자외선 대역의 파장범위를 가지는 자외선 광을 조사하는 제1광원과, 가시광 및 근적외선 대역의 파장범위를 가지는 광을 조사하는 제2광원을 포함하는 이중 광원과;상기 이중 광원에서 조사된 광이 쌀 시료들에 의해 반사되어 나오는 반사광에서 서로 다른 대역의 자외선 광과 근적외선 광 스펙트럼을 검출해 광전변환 출력하는 센서들을 포함하는 분광 측정부와;상기 시료 정렬부를 이동 제어하고 상기 이중 광원의 광량을 제어하기 위한 구동 제어부와;상기
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