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연합인증

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마이크로·나노 버블에 의한 세정 방법 및 세정 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/02
  • B01F-001/00
  • B01F-015/06
  • B01F-003/04
  • B01F-005/02
  • B05B-007/16
  • B05B-007/32
  • B05D-001/02
  • B05D-003/10
  • H01L-021/027
  • H01L-021/304
출원번호 10-2016-7035300 (2016-12-16)
공개번호 10-2017-0008813 (2017-01-24)
등록번호 10-1934627-0000 (2018-12-26)
우선권정보 일본(JP) JP-P-2014-244538 (2014-12-02)
국제출원번호 PCT/JP2015/083678 (2015-12-01)
국제공개번호 WO 2016/088731 (2016-06-09)
번역문제출일자 2016-12-16
DOI http://doi.org/10.8080/1020167035300
발명자 / 주소
  • 다치바나 요시아키 / 일본국 이바라키켄 히타치나카시 나카네 ****-** 시그마 테크놀로지 유겐가이샤 나이
출원인 / 주소
  • 시그마 테크놀로지 유겐가이샤 / 일본국 이바라키켄 히타치나카시 나카네 ****-**
대리인 / 주소
  • 특허법인코리아나
심사청구여부 있음 (2016-12-16)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

피처리 기판에 대해 마이크로·나노 버블을 함유하는 처리액의 분사라는 간편한 방법만으로, 환경에 대한 부하를 저감시키면서, 기판 상의 레지스트 잔류물 부착의 박리 혹은 오염물의 제거를, 효율적으로, 또한, 확실하게 실시할 수 있는 마이크로·나노 버블에 의한 세정 방법 및 세정 장치를 제공한다. 본 발명의 세정 방법은, 기판 상에 레지스트막이 부착된 피처리 기판 혹은 표면이 금속 또는 금속 화합물로 오염된 피처리 기판에 대해, 빙 포매법에 의해 크라이오 투과형 전자 현미경으로 측정했을 때의 평균 입경이 100 nm 이하, 바람직하게는

대표청구항

기판 상에 레지스트막이 부착된 피처리 기판 혹은 표면이 금속 또는 금속 화합물로 오염된 피처리 기판에 대해, 기체의 마이크로·나노 버블을 함유한 처리액을 분사함으로써 상기 레지스트막의 박리 혹은 상기 금속 또는 금속 화합물의 제거를 실시하는 세정 방법으로서,상기 기체의 마이크로·나노 버블을 함유하는 처리액이, 용존 기체를 포함하는 용액을, 2 이상의 작은 관통 구멍을 둘레 방향에 갖는 통의 외부로부터 그 작은 관통 구멍을 통해 대기압 이상의 압력으로 분사시킬 때에, 상기 통의 직경 방향 단면과 평행한 동일 평면 상에서 대향하도록 배

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. [한국] 마이크로 나노버블을 이용한 반도체 세정방법 및 그 장치 | 이만순, 김은태
  2. [한국] 세정액 생성 장치 및 기판 세정 장치 | 미야자키 구니히로, 하야시 고노스케
  3. [일본] APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING SUBSTRATE | HIROSE HARUMICHI, ABE MASAYASU
  4. [국제] RESIST REMOVAL DEVICE AND RESIST REMOVAL METHOD | TANAKA JUNICHI,

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. [한국] 반도체 및 디스플레이 제조 설비의 습식 장비용 장비 세정 장치 | 유민상
  2. [한국] 직렬 형태로 이루어지는 반도체 및 디스플레이 제조 설비의 습식 장비용 장비 세정 장치 | 유민상
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