초록 ▼

본 발명은 고분자 전해질 연료전지의 3-레이어 MEA(Membrane Electrode Assembly)에 대한 손상을 정량적으로 분석하는 방법과, 당해 방법을 적용할 수 있는 장치에 관한 것으로, 열화의 정량적 평가를 위한 MEA를 준비하는 단계; 상기 MEA의 활성화 면적에 대해 동일 배율로 서로 다른 복수 개의 개소를 촬영하여 그레이스케일의 이미지를 얻는 단계; 상기 그레이스케일의 이미지의 각 화소(pixel)를, 손상부가 촬영된 화소와 비손상부가 촬영된 화소로 이진화하는 단계; 이진화된 데이터를 기준으로, MEA 표면의 손상

본 발명은 고분자 전해질 연료전지의 3-레이어 MEA(Membrane Electrode Assembly)에 대한 손상을 정량적으로 분석하는 방법과, 당해 방법을 적용할 수 있는 장치에 관한 것으로, 열화의 정량적 평가를 위한 MEA를 준비하는 단계; 상기 MEA의 활성화 면적에 대해 동일 배율로 서로 다른 복수 개의 개소를 촬영하여 그레이스케일의 이미지를 얻는 단계; 상기 그레이스케일의 이미지의 각 화소(pixel)를, 손상부가 촬영된 화소와 비손상부가 촬영된 화소로 이진화하는 단계; 이진화된 데이터를 기준으로, MEA 표면의 손상비율을 산출하는 단계; 및 상기 복수 개의 개소에서 각각 산출된 MEA 표면의 손상비율의 평균값을 구하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 촬영 및 이미지 처리를 이용한 고분자 전해질 연료전지의 3-레이어 MEA 손상 분석 방법을 제공한다.

대표청구항 ▼

열화가 서로 달리 진행된 복수 개의 MEA를 준비하는 제1단계;상기 MEA 표면을 향해 실질적으로 수직인 방향으로 빛을 조사하여 2000 lux 이상 2500 lux 이하의 밝기를 조성하고, 검사 대상인 MEA 표면의 상부에서 실질적으로 수직인 방향으로, 상기 MEA의 활성화 면적에 대해 각 촬영 개소의 면적이 0.89mm2 이상 1.57 mm2 이하의 동일 면적이 되도록, 서로 다른 복수 개의 개소를 85 배율 이상 113 배율 이하의 동일 배율로 촬영하여, 그레이스케일의 이미지를 얻는 제2단계;상기 그레이스케일의 이미지의 각 화

열화가 서로 달리 진행된 복수 개의 MEA를 준비하는 제1단계;상기 MEA 표면을 향해 실질적으로 수직인 방향으로 빛을 조사하여 2000 lux 이상 2500 lux 이하의 밝기를 조성하고, 검사 대상인 MEA 표면의 상부에서 실질적으로 수직인 방향으로, 상기 MEA의 활성화 면적에 대해 각 촬영 개소의 면적이 0.89mm2 이상 1.57 mm2 이하의 동일 면적이 되도록, 서로 다른 복수 개의 개소를 85 배율 이상 113 배율 이하의 동일 배율로 촬영하여, 그레이스케일의 이미지를 얻는 제2단계;상기 그레이스케일의 이미지의 각 화소(pixel)를, 손상부가 촬영된 화소와 비손상부가 촬영된 화소로 이진화하는 제3단계;이진화된 데이터를 기준으로, 이진화된 데이터의 전체 화소 개수 대비 손상부가 촬영된 화소의 개수로 비율화하여, MEA 표면의 손상비율을 산출하는 제4단계;상기 복수 개의 개소에서 각각 산출된 MEA 표면의 손상비율의 평균값을 구하는 제5단계; 및 상기 MEA를 적용한 고분자전해질 연료전지(PEMFC)의 최대 출력을 각각 측정하고, 산출된 MEA 표면의 손상비율과 그에 따른 고분자전해질 연료전지의 최대 출력을 대응하여, MEA 표면의 손상비율의 증가에 따른 고분자전해질 연료전지의 성능 변동에 대한 로그 함수 형태의 경향성을 도출하는 제6단계;를 포함하고,열화의 정량적 평가를 위한 검사 대상인 MEA에 대해 상기 제2단계 내지 제5단계를 거쳐 구하여진 MEA 표면의 손상비율의 평균값을, 상기 제6단계에서 구하였던 경향성과 대비하여, 열화의 정량적 평가를 위한 MEA에 대한 최대 출력의 측정 없이, 열화의 정량적 평가를 진행하는 것을 특징으로 하는,영상 촬영 및 이미지 처리를 이용한 고분자 전해질 연료전지의 3-레이어 MEA 손상 분석 방법.