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연합인증

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곡물의 발아율 예측 시스템 및 발아율 예측 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01N-021/17
  • A01C-001/02
  • G01N-021/55
출원번호 10-2017-0144887 (2017-11-01)
공개번호 10-2019-0049251 (2019-05-09)
등록번호 10-2138808-0000 (2020-07-22)
DOI http://doi.org/10.8080/1020170144887
발명자 / 주소
  • 김의웅 / 경기도 화성시 경기대로 *** ***동 ***호 (병점동,SK뷰아파트)
  • 김훈 / 경기도 수원시 영통구 센트럴타운로 ** ****-****호
  • 안재환 / 서울특별시 성북구 정릉로 *** ***동 ***호 (돈암동,현대아파트)
  • 최태현 / 세종특별자치시 누리로 ** ***동 ***호 (한솔동,첫마을아파트*단지)
출원인 / 주소
  • 한국식품연구원 / 전라북도 완주군 이서면 농생명로 ***
대리인 / 주소
  • 윤대웅; 공병욱
심사청구여부 있음 (2019-04-02)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 곡물의 발아율 예측 시스템 및 발아율 예측 방법에 관한 것으로 곡물 시료에 대한 분광분석 데이터와 형상 특성 및 색 특성 데이터를 인공지능 알고리즘 기반의 발아율 예측 프로그램에 적용하여 곡물 시료의 발아율을 보다 정확하게 예측할 수 있다.

대표청구항

곡물 시료가 정렬되는 시료 정렬부;광원을 포함하는 광원부;상기 광원부에서 곡물 시료에 조사(illumination)된 광원에 의해 상기 곡물 시료로부터 반사되어 나오는 반사광을 검출하는 반사광 검출부; 곡물 시료의 이미지를 촬영하는 이미지 촬영부;상기 이미지 촬영부에 의해 얻은 이미지로부터 곡물 시료 배아 부분의 면적(area), 둘레(perimeter), 단축(minor axis), 장축(major axis), 장단축 비율, 외곽선 비율(contour ratio) 및 원형도(roundness)로 이루어진 군으로부터 선택되는 하나

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [일본] DEVICE FOR EVALUATING TASTE OF FARM PRODUCE AND DEVICE FOR EVALUATING PROCESSING CHARACTERISTIC OF FARM PRODUCE | FUJIOKA SADAKAZU, MORI TAIICHI
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