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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2017-0181427 (2017-12-27) | |
공개번호 | 10-2019-0079317 (2019-07-05) | |
등록번호 | 10-2091014-0000 (2020-03-13) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020170181427 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2017-12-27) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 소멸 |
일 실시예에 따른 머신 비전 장치는, 검사 대상의 상부에 배치된 적어도 두 개의 비전 카메라; 및 상기 검사 대상에 대한 기준 이미지가 미리 입력되고, 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하는 프로세서;를 포함하고, 상기 프로세서는 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하여 상기 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상으로 인한 오류를 판단할 수 있다.
검사 대상의 상부에 배치된 적어도 두 개의 비전 카메라; 및상기 검사 대상에 대한 기준 이미지가 미리 입력되고, 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하는 프로세서;를 포함하고,상기 프로세서는 상기 미리 입력된 검사 대상에 대한 기준 이미지 및 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지를 분석하여 검사 대상 자체의 오류 및 검사 외 대상으로 인한 오류를 판단하며,상기 프로세서는 상기 적어도 두 개의 비전 카메라에서 획득된 촬영 이미지와 상기
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