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| 국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2018-0007764 (2018-01-22) | |
| 공개번호 | 10-2019-0089369 (2019-07-31) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020180007764 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사진행상태 | 취하(심사미청구) | |
| 법적상태 | 취하 |
이차 전지 검사 장치는 이차 전지를 공급하기 위한 공급부와, 상기 공급부로부터 공급되는 이차 전지에서 전극 조립체의 단자와 캔 사이의 대전 저항을 측정하는 대전 검사부와, 상기 대전 검사가 완료된 상기 이차 전지에서 상기 전극 조립체의 양극과 음극 사이의 쇼트를 검사하기 위한 쇼트 검사부와, 카메라를 이용하여 상기 쇼트 검사가 완료된 이차 전지에서 상기 캔과 상기 캔을 덮는 캡의 용접 부위를 검사하는 외관 검사부와, 상기 외관 검사가 완료된 상기 이차 전지에서 엑스선을 이용하여 상기 전극 조립체와 상기 캔 사이의 간격을 검사하는 엑
이차 전지를 공급하기 위한 공급부;상기 공급부로부터 공급되는 이차 전지에서 전극 조립체의 단자와 캔 사이의 대전 저항을 측정하는 대전 검사부;상기 대전 검사가 완료된 상기 이차 전지에서 상기 전극 조립체의 양극과 음극 사이의 쇼트를 검사하기 위한 쇼트 검사부;카메라를 이용하여 상기 쇼트 검사가 완료된 이차 전지에서 상기 캔과 상기 캔을 덮는 캡의 용접 부위를 검사하는 외관 검사부;상기 외관 검사가 완료된 상기 이차 전지에서 엑스선을 이용하여 상기 전극 조립체와 상기 캔 사이의 간격을 검사하는 엑스선 검사부;상기 검사가 완료된 이차
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