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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2018-0108149 (2018-09-11) | |
등록번호 | 10-2069779-0000 (2020-01-17) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020180108149 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2018-09-11) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 다수개의 인쇄회로기판을 동시에 이송하여 검사할 수 있는 인쇄회로기판 검사 장치에 관한 것으로서, 상부에 검사 전 상태의 상기 다수개의 인쇄회로기판이 동시에 안착되는 제1 본체부; 상기 제1 본체부의 일측에 위치되고, 상기 제1 본체부로부터 이송된 상기 다수개의 인쇄회로기판의 검사가 수행되는 제2 본체부; 상기 제1본체부의 타측에 위치되고, 상기 제2 본체부로부터 검사가 완료된 상기 다수개의 인쇄회로기판이 안착되는 제3 본체부; 상기 제1 본체부의 상부 일측에 위치되고, 검사 전 상태의 상기 다수개의 인쇄회로기판의 적어도
다수개의 인쇄회로기판을 동시에 검사하기 위한 인쇄회로기판 검사 장치에 있어서,상부에 검사 전 상태의 상기 다수개의 인쇄회로기판이 동시에 안착되는 제1 본체부;상기 제1 본체부의 일측에 위치되고, 상기 제1 본체부로부터 이송된 상기 다수개의 인쇄회로기판의 검사가 수행되는 제2 본체부;상기 제1 본체부의 타측에 위치되고, 상기 제2 본체부로부터 검사가 완료된 상기 다수개의 인쇄회로기판이 안착되는 제3 본체부;상기 제1 본체부의 상부 일측에 위치되고, 검사 전 상태의 상기 다수개의 인쇄회로기판의 적어도 하나의 모서리를 가압하여 상기 다수
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