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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2018-0115002 (2018-09-27) | |
공개번호 | 10-2019-0037149 (2019-04-05) | |
등록번호 | 10-2267599-0000 (2021-06-15) | |
우선권정보 | 대한민국(KR) 1020170126526 (2017-09-28) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020180115002 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2019-07-09) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 슬러리의 점도 변화를 확인하는 간이한 방법으로 전극 슬러리의 상안정성을 예측할 수 있다. 따라서 전극 제조 공정에 투입 전 상안정성이 높은 전극 슬러리만을 선별하여 공정에 투입할 수 있으므로 공정 효율성이 증대되는 효과가 있다.
복수의 전극 활물질 입자, 바인더용 고분자 수지 및 용매를 포함하는 혼합 시료에서 시료 중 복합 입자들에 대한 입도 분포를 확인하고 이를 전극 활물질 입자의 입도 분포와 비교함으로써 전극 슬러리의 상안정성을 판단하며,상기 혼합 시료는 전극 활물질, 바인더용 고분자 수지 및 용매를 포함하며, 상기 전극 활물질은 탄소재이고, 상기 용매는 물이며, 상기 혼합 시료 중 복합 입자의 D50과 음극 활물질 입자의 D50을 비교하는 것인 전극 슬러리 선정 방법.
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