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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2018-0142621 (2018-11-19) | |
공개번호 | 10-2018-0125934 (2018-11-26) | |
등록번호 | 10-2359854-0000 (2022-02-03) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020180142621 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2021-05-06) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 DNA 생체표지자의 초민감성 정량 분석 방법 및 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로 본 발명은 원자간력 현미경을 이용한 표적 DNA 정량 분석 방법 및 정량 분석 키트를 제공한다. 본 발명의 DNA 정량 분석 방법은 기존의 방법으로 수행하기 어려웠던 극미량의 표적 DNA를 원자간력 현미경의 결합힘-지도화를 이용하여 표적 DNA의 증폭, 변형, 형광 표지 없이 정량 분석할 수 있다는 장점이 있다. 특히, 표적 DNA를 포집하기 위해 생성하는 프로브 DNA 스팟 크기의 최적화를 통해 10개 이하 표적 DNA 분자를 다양한
바디의 말단에 형성된 팁 및 상기 팁의 표면에 표적 DNA와 상보적으로 결합할 수 있는 염기서열을 포함하는 검출 DNA가 고정된 원자간력 현미경용 캔틸레버; 및 표적 DNA와 상보적으로 결합할 수 있는 염기서열을 포함하는 프로브 DNA가 지름 100 nm ~ 10 μm의 스팟으로 고정된 인쇄 기판을 포함하고,상기 인쇄 기판은 10 ~ 900 μm2 면적, 10 ~ 900 nm 깊이로 식각되어 스팟의 위치를 표시하는 패턴을 포함하며,상기 프로브 DNA는 상기 패턴 상에 인쇄되는, 표적 DNA 정량 분석 키트.
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