다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기
| 국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
|---|---|---|
| 국제특허분류(IPC8판) |
|
|
| 출원번호 | 10-2018-0160148 (2018-12-12) | |
| 공개번호 | 10-2020-0091508 (2020-07-31) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020180160148 | |
| 발명자 / 주소 |
|
|
| 출원인 / 주소 |
|
|
| 대리인 / 주소 |
|
|
| 심사청구여부 | 있음 (2018-12-12) | |
| 심사진행상태 | 거절결정(재심사) | |
| 법적상태 | 거절 |
본 발명은 과학 기술 내용을 담고 있는 특허 데이터와 논문 데이터로부터 산출되는 특허 및 논문변수들을 학습하여 생성된 모델을 통해 국가, 기업, 연구기관 및 단위기술들의 과학 기술력을 진단하고 예측하기 위한 방법에 관한 것으로서, 특허 데이터를 수집하는 단계; 수집된 특허 데이터를 분류하는 단계; 특허 변수를 산출하는 단계; 및 특허 기반 진단 모델을 생성하는 단계; 특허 기반 진단 값을 산출하는 단계; 를 포함할 수 있다.
특허 데이터베이스로부터 미리 정해진 기술의 특허 데이터를 수집하는 단계;상기 수집된 특허 데이터를 국가 또는 기업들 단위로 분류하는 단계;상기 분류된 국가 또는 기업들의 특허 데이터로부터 특허 변수들을 산출하는 단계;상기 특허 변수들 중 하나 이상을 머신러닝 알고리즘에 적용하여 상기 국가 또는 기업들의 과학 기술력을 진단하는 특허 기반 진단 모델을 생성하는 단계; 및상기 특허 기반 진단 모델을 이용하여, 상기 국가 또는 기업들의 과학 기술력을 진단하는 특허 기반 진단 값을 산출하는 단계; 를 포함하는 특허 데이터를 활용한 과학 기술
Copyright KISTI. All Rights Reserved.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.