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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2018-7015962 (2018-06-05) | |
공개번호 | 10-2018-0083877 (2018-07-23) | |
등록번호 | 10-2198118-0000 (2020-12-28) | |
우선권정보 | 일본(JP) JP-P-2015-238988 (2015-12-07) | |
국제출원번호 | PCT/JP2016/086434 (2016-12-07) | |
국제공개번호 | WO 2017/099143 (2017-06-15) | |
번역문제출일자 | 2018-06-05 | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020187015962 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2018-06-05) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
수소 및 암모니아를 함유하는 혼합 가스 중의 암모니아를 제거하는 제1 암모니아 제거 장치와, 상기 제1 암모니아 제거 장치의 후단에 설치되어 있고, 상기 제1 암모니아 제거 장치에서 처리된 제1 처리 가스를 처리하는 제2 암모니아 제거 장치와, 상기 제1 암모니아 제거 장치에서 처리된 제1 처리 가스 중의 암모니아 농도를 측정하는 제1 암모니아 농도 측정 장치를 갖는 암모니아 제거 설비 등.
수소 및 암모니아를 함유하는 혼합 가스 중의 암모니아를 제거하는 제1 암모니아 제거 장치와,상기 제1 암모니아 제거 장치의 후단에 설치되어 있고, 상기 제1 암모니아 제거 장치에서 처리된 제1 처리 가스 중의 암모니아를 제거하는 제2 암모니아 제거 장치와,상기 제1 암모니아 제거 장치에서 처리된 제1 처리 가스 중의 암모니아 농도를 측정하는 제1 암모니아 농도 측정 장치를 갖는, 암모니아 제거 설비에 있어서,상기 제1 암모니아 농도 측정 장치는, 파장 스캔 캐비티 링 다운 분광법(WS-CRDS) 방식의 가스 분석 장치이고,상기 제1
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