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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2019-0068442 (2019-06-11) | |
등록번호 | 10-2188595-0000 (2020-12-02) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020190068442 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2019-06-11) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 기계적 자극 분석방법 및 이를 이용한 시스템에 관한 것으로, 형광 또는 흡광 스펙트럼의 파장 축 이동, 파장 대역폭의 변화, 및 디콘볼루션(deconvolution) 변화 중에서 선택된 1종 이상의 측정지표로 이용하는 것으로 특징으로 한다. 이에 의하여 종래 형광 또는 흡광의 세기 성질(intensive property)을 측정하여 기계적 자극 분석하는 것과는 달리 크기에 의존하지 않아 시편의 상태나 측정 장비에 관계없이 동일한 응력, 변형, 손상에 대하여 일정한 변형값을 측정하여 기계적 자극에 대해 정확하고 간편한 모니
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