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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2019-0160323 (2019-12-05) | |
공개번호 | 10-2021-0070514 (2021-06-15) | |
등록번호 | 10-2273485-0000 (2021-06-30) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020190160323 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2019-12-05) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 기존의 형광 측정장치 들이 회전형의 필터휠을 사용하여 몇 가지 형태의 광파장을 선택하여 파장을 변화시켜가며 측정하는 방법을 사용하고 있다.그러나, 실시간으로 여러 물질을 동시에 측정하여야 하는 경우 이러한 방법을 사용하기는 쉽지 않다. 본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위하여, 광원; 및 상기 광원의 광을 평행광으로 만들어주는 평행광렌즈; 및 상기 평행광렌즈에서 평행광으로 변화된 광을 샘플의 형광을 측정하기위하여 측정에 필요한 평행광만을 통과시키는 슬릿; 및 상기 슬릿을 통과한 빛을 샘플에 비추고, 샘플을 통과한 광
멀티형 형광측정기에 있어서, 광원(10)에서 나온 광은 평형광렌즈(20)를 통과하여 평행광이 되고, 상기 평행광은 샘플에 광을 조사할 수 있도록 슬릿(30)을 통과한 후 샘플에 조사되고, 조사된 상기 광에 의하여 상기 샘플에서 발생되는 형광을 광 파장별로 멀티로 측정하기 위하여 리니어 베리어블 밴드패스필터(100)를 구비하며, 상기 리니어 베리어블 밴드패스필터의 위치별로 파장이 다른 형광이 통과되고 이를 실린더 렌즈를 사용하여 선형으로 모아 리니어 CCD로 측정함으로써 위치별로 다른 파장의 형광을 측정하는 것을 특징으로 하는 멀티형
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