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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0002942 (2020-01-09) | |
공개번호 | 10-2020-0088222 (2020-07-22) | |
우선권정보 | 대한민국(KR) 1020190004077 (2019-01-11) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200002942 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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법적상태 | 공개 |
본 발명은 엑스선을 이용하여 적층형 이차전지의 적층 정렬도를 검사하는 장치에 관한 것으로, 간편하고 효율적으로 적층형 이차전지의 정렬도를 검사할 수 있다.
이차전지를 제1 방향으로 이송하도록 구성된 이송부;상기 이차전지에 제1 엑스선을 조사하는 제1 엑스선 소스, 상기 제1 엑스선의 중심축은 상기 제1 방향에 교차하는 제2 방향에 평행한 것;상기 이차전지를 투과한 제1 엑스선을 검출하는 제1 검출기; 상기 이차전지에 제2 엑스선을 조사하는 제2 엑스선 소스, 상기 제2 엑스선의 중심축은 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향에 수직한 제3 방향에 평행한 것; 및상기 이차전지를 투과한 제2 엑스선을 검출하는 제2 검출기를 포함하되,상기 제1 검출기 및 상기 제2 검출기의 각각은 상기 이차전
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