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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0021214 (2020-02-20) | |
공개번호 | 10-2020-0021495 (2020-02-28) | |
등록번호 | 10-2157233-0000 (2020-09-11) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200021214 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2020-02-20) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은, X-선과 중성자선을 생성한 후 검사대상체를 향해 조사하는 방사선 발생부; 상기 검사대상체의 위치를 가변시키는 검사대상체 이동부; 상기 검사대상체를 투과한 X-선 및 중성자선을 각각 검출하도록 구성되는 방사선 검출부; 및 상기 검사대상체를 투과한 X-선과 중성자선으로부터 검출된 방사선 정보를 이용하여, 상기 검사대상체의 영상 정보를 획득하기 위한 영상시스템을 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 시스템에 관한 것이다.
X-선과 중성자선을 생성한 후 검사대상체를 향해 조사하는 방사선 발생부;상기 검사대상체의 위치를 가변시키는 검사대상체 이동부;상기 검사대상체를 투과한 X-선 및 중성자선을 각각 검출하도록 구성되는 방사선 검출부; 및상기 검사대상체를 투과한 X-선과 중성자선으로부터 검출된 방사선 정보를 이용하여, 상기 검사대상체의 영상 정보를 획득하기 위한 영상시스템을 포함하고, 상기 방사선 검출부는, 상기 방사선 발생부의 X-선 또는 중성자선의 조사 시점과 동기화되도록 이루어져 상기 검사대상체를 투과한 X-선과 중성자선을 검출하도록 이루어지며,상기
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