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연합인증

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[한국특허] 검체 내 분석물을 검출하기 위한 디바이스 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01N-021/01
  • G01J-001/02
  • G01J-001/44
  • G01N-021/88
출원번호 10-2020-0065223 (2020-05-29)
등록번호 10-2306147-0000 (2021-09-17)
DOI http://doi.org/10.8080/1020200065223
발명자 / 주소
  • 김민우 / 대전광역시 유성구 궁동로 **, ***호
  • 노미희 / 대전광역시 유성구 죽동로 ***, ***동 ***호
  • 윤병우 / 대전광역시 유성구 대정로**번안길 **, ***동 ***호
  • 이리미 / 대전광역시 유성구 배울*로 **, ***동 ****호
  • 김은경 / 대전광역시 유성구 반석서로 **, ***-****
  • 유승범 / 경기도 용인시 기흥구 서그내로 **(서천동, 용인서천 효성해링턴플레이스) ***동 ****호
  • 손미진 / 대전광역시 유성구 지족로 ***, ***동 ***호(지족동, 반석마을아파트*단지)
출원인 / 주소
  • 주식회사 수젠텍 / 대전광역시 유성구 테크노*로 *** , ***호(용산동, 미건테크노월드*차)
대리인 / 주소
  • 특허법인 플러스
심사청구여부 있음 (2020-05-29)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 검체 내 분석물을 검출하기 위한 디바이스에 관한 것으로, 보다 상세하게는 구조에 변화를 주어 민감성을 개선한 검체 내 분석물을 검출하기 위한 디바이스에 관한 것이다. 본 발명의 검체 내 분석물을 검출하기 위한 디바이스는 광원 및 광센서를 검사구역과 대조구역에 상응하도록 배열하고, 각 광원부, 광센서, 검사 및 보정구역과 대응되는 위치에 홀을 형성하고, 홀 주변에 형성된 스틱 하우징 격벽이 형성된 스틱 하우징을 추가하여, 측정 민감도 및 정확도를 향상시키는 효과가 있다.

대표청구항

삭제

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [한국] 다수 개의 검사 대상 정렬 구조의 엑스레이 검사 장치용 검사 디바이스 | 김형철, 장용한, 신기훈
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