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Al이 도핑된 NCM 양극재의 Al 도핑 여부 판단 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01N-023/20091
  • G01N-023/2055
출원번호 10-2020-0109354 (2020-08-28)
공개번호 10-2022-0028405 (2022-03-08)
DOI http://doi.org/10.8080/1020200109354
발명자 / 주소
  • 노태민 / 대전광역시 유성구 문지로 ***(문지동, LG화학기술연구원)
  • 김동환 / 대전광역시 유성구 문지로 ***(문지동, LG화학기술연구원)
  • 남재근 / 대전광역시 유성구 문지로 ***(문지동, LG화학기술연구원)
  • 정상훈 / 대전광역시 유성구 문지로 ***(문지동, LG화학기술연구원)
  • 오명환 / 대전광역시 유성구 문지로 ***(문지동, LG화학기술연구원)
출원인 / 주소
  • 주식회사 엘지화학 / 서울특별시 영등포구 여의대로 *** (여의도동)
대리인 / 주소
  • 특허법인필앤온지
법적상태 공개

초록

고함량 니켈 NCM 양극재에 싸이클 안정성을 위해서 첨가되는 원소 중, 특히 Al의 도핑 여부를 판별할 수 있는 평가 방법을 제공한다. 본 발명에 따른, Al이 도핑된 NCM 양극재의 Al 도핑 여부 판단 방법은, 니켈 함량이 80% 이상인 고함량 니켈 NCM 양극재이고 Al을 도핑 원소로서 첨가하여 소성한 양극재에 대하여 Al 도핑 여부를 판별하는 방법으로서, 상기 양극재에 대해 XRD 측정을 하는 단계; 상기 XRD 측정에서 일정 크기 이상의 Li5AlO4 피크가 검출되면 상기 NCM의 격자 내로 고용되지 못한 Al이 남아있는

대표청구항

니켈 함량이 80% 이상인 고함량 니켈 NCM 양극재이고 Al을 도핑 원소로서 첨가하여 소성한 양극재에 대하여 Al 도핑 여부를 판별하는 방법으로서, 상기 양극재에 대해 XRD 측정을 하는 단계;상기 XRD 측정에서 일정 크기 이상의 Li5AlO4 피크가 검출되면 상기 NCM의 격자 내로 고용되지 못한 Al이 남아있는 것으로 판단하는 단계; 및상기 XRD 측정에서 일정 크기 이상의 Li5AlO4 피크가 검출되지 않으면 상기 NCM의 격자 내로 고용되지 못한 Al이 남아있지 않은 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 A

발명자의 다른 특허 :

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