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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0122545 (2020-09-22) | |
등록번호 | 10-2279185-0000 (2021-07-13) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200122545 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2020-09-22) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 메모리 모듈의 온도 조절 테스트 유닛 및 이를 이용한 메모리 모듈 테스트 장치에 관한 것으로, 본 발명은 복수 개의 메모리 모듈이 장착되는 테스트 보드부; 메모리 모듈 장착 구역을 둘러싸도록 형성되는 테스트 박스부; 상기 테스트 박스부의 상부에 배치되어 상하로 이동가능하며, 상기 테스트 박스부와 함께 상기 메모리 모듈 장착 구역을 커버가능한 컨트롤 박스부; 구동부; 상기 구동부의 회전에 따라 회전되는 회전축부; 상기 회전축부의 회전에 따라 회전되는 피니언 기어부; 상기 회전축의 회전력을 전달받아 상기 컨트롤 박스부가 상하
테스트 공간에 설치되어 복수개의 메모리 모듈 장착 구역을 구비하고, 복수개의 메모리 모듈이 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각에 장착되는 테스트 보드부;상기 테스트 보드부 상부에 배치되어 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각을 둘러싸도록 형성된 테스트 박스부;상기 테스트 박스부 상부에 배치되어 상하로 이동이 가능하고, 상기 테스트 박스부와 함께 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역을 커버하는 컨트롤 박스부;상기 컨트롤 박스부에 장착되어 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각의 내부온도를 체크하는 온도컨트롤부; 및상기
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