초록 ▼

본 발명은 메모리 모듈의 온도 조절 테스트 유닛 및 이를 이용한 메모리 모듈 테스트 장치에 관한 것으로, 본 발명은 복수 개의 메모리 모듈이 장착되는 테스트 보드부; 메모리 모듈 장착 구역을 둘러싸도록 형성되는 테스트 박스부; 상기 테스트 박스부의 상부에 배치되어 상하로 이동가능하며, 상기 테스트 박스부와 함께 상기 메모리 모듈 장착 구역을 커버가능한 컨트롤 박스부; 구동부; 상기 구동부의 회전에 따라 회전되는 회전축부; 상기 회전축부의 회전에 따라 회전되는 피니언 기어부; 상기 회전축의 회전력을 전달받아 상기 컨트롤 박스부가 상하

본 발명은 메모리 모듈의 온도 조절 테스트 유닛 및 이를 이용한 메모리 모듈 테스트 장치에 관한 것으로, 본 발명은 복수 개의 메모리 모듈이 장착되는 테스트 보드부; 메모리 모듈 장착 구역을 둘러싸도록 형성되는 테스트 박스부; 상기 테스트 박스부의 상부에 배치되어 상하로 이동가능하며, 상기 테스트 박스부와 함께 상기 메모리 모듈 장착 구역을 커버가능한 컨트롤 박스부; 구동부; 상기 구동부의 회전에 따라 회전되는 회전축부; 상기 회전축부의 회전에 따라 회전되는 피니언 기어부; 상기 회전축의 회전력을 전달받아 상기 컨트롤 박스부가 상하이동이 가능하도록 설치되는 랙 기어부; 및 상기 컨트롤 박스부의 내부온도를 체크하고 온도를 설정하며 펠티에 소자를 포함하는 온도 컨트롤러부;를 포함할 수 있다.본 발명은 메모리 모듈이 장착되는 위치를 복수의 구역으로 구분하고 복수의 송풍팬에 의해 보다 정확한 온도 제어가 가능하다. 본 발명은 각 메모리 구역에 대응되는 온도를 실시간으로 바로 확인이 가능하므로, 이로 인해 각 메모리 구역의 온도 제어를 빠르게 수행할 수 있다. 본 발명은 테스트 속도가 높아 보다 빠른 테스트가 가능하다.

대표청구항 ▼

테스트 공간에 설치되어 복수개의 메모리 모듈 장착 구역을 구비하고, 복수개의 메모리 모듈이 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각에 장착되는 테스트 보드부;상기 테스트 보드부 상부에 배치되어 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각을 둘러싸도록 형성된 테스트 박스부;상기 테스트 박스부 상부에 배치되어 상하로 이동이 가능하고, 상기 테스트 박스부와 함께 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역을 커버하는 컨트롤 박스부;상기 컨트롤 박스부에 장착되어 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각의 내부온도를 체크하는 온도컨트롤부; 및상기

테스트 공간에 설치되어 복수개의 메모리 모듈 장착 구역을 구비하고, 복수개의 메모리 모듈이 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각에 장착되는 테스트 보드부;상기 테스트 보드부 상부에 배치되어 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각을 둘러싸도록 형성된 테스트 박스부;상기 테스트 박스부 상부에 배치되어 상하로 이동이 가능하고, 상기 테스트 박스부와 함께 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역을 커버하는 컨트롤 박스부;상기 컨트롤 박스부에 장착되어 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각의 내부온도를 체크하는 온도컨트롤부; 및상기 테스트 보드부 하부에 배치되어 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역 각각의 사이에 위치하고, 상기 온도컨트롤부에 응답하여 상기 복수개의 메모리 모듈 장착 구역의 내부온도가 설정된 온도에 도달하기까지 상기 테스트 공간에 공기를 주입하는 복수개의 송풍팬을 포함하는 메모리 모듈의 온도 조절 테스트 유닛.