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[한국특허] 펠티어 타입 온도 조절 유닛을 포함하는 인시츄 X선 회절 분석 장치 및 이를 사용한 분석 방법
In-situ X-ray diffraction analysis apparatus including Peltier-type temperature control unit and analyzing methods using the same
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IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01N-023/20033
  • G01N-023/20
출원번호 10-2020-0146385 (2020-11-04)
공개번호 10-2022-0060414 (2022-05-11)
등록번호 10-2430551-0000 (2022-08-03)
DOI http://doi.org/10.8080/1020200146385
발명자 / 주소
  • 성영은 / 서울특별시 관악구 관악로 *, 서울대학교 공과대학 화학생물공학부(신림동)
  • 박정진 / 서울특별시 관악구 관악로 *, 서울대학교 화학공정신기술연구소(신림동)
  • 박재혁 / 서울특별시 관악구 관악로 *, 서울대학교 공과대학 화학생물공학부(신림동)
  • 이종식 / 경기도 안양시 동안구 관악대로***번길 **, ***동 ****호(비산동, 비산롯데캐슬)
  • 김천중 / 대전광역시 유성구 노은서로***번길 **, ***동 ***호(지족동, 열매마을아파트*단지)
출원인 / 주소
  • 서울대학교산학협력단 / 서울특별시 관악구 관악로 * (신림동)
  • 기초과학연구원 / 대전광역시 유성구 엑스포로 **(도룡동)
  • 충남대학교산학협력단 / 대전광역시 유성구 대학로 ** (궁동, 충남대학교)
대리인 / 주소
  • 리앤목특허법인
심사청구여부 있음 (2020-11-04)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

인시츄 X선 분석장치는 인시츄 전기화학 셀에 연결되고, 상기 인시츄 전기화학 셀의 전압 및 전류를 조절하거나, 상기 인시츄 전기화학 셀의 전압 정보 및 전류 정보를 기록하도록 구성되는 일정 전위기(potentiostat); 상기 인시츄 전기화학 셀의 X선 회절 정보를 얻도록 구성되는 X선 분석 장치; 및 상기 X선 분석 장치 및 상기 일정 전위기에 연결되어, 상기 X선 분석 장치 및 상기 일정 전위기 각각으로부터 신호를 제공하거나 제공받도록 구성되는 컨트롤러;를 포함한다.

대표청구항

인시츄 전기화학 셀에 연결되고, 상기 인시츄 전기화학 셀의 전압, 전류 및 시간을 조절하거나, 상기 인시츄 전기화학 셀의 전압, 전류, 저항, 용량 및 시간 정보를 기록하도록 구성되는 일정 전위기(potentiostat);상기 인시츄 전기화학 셀의 X선 회절 정보를 얻도록 구성되는 X선 분석 장치;펠티어 타입 온도 조절 유닛으로서, 상기 인시츄 전기화학 셀을 그 상부에 장착할 수 있는 베이스 플레이트와, 상기 인시츄 전기화학 셀을 커버하고 X선이 상기 인시츄 전기화학 셀을 투과하여 통과할 수 있는 한 쌍의 개구부를 갖는 캡부와, 상

이 특허에 인용된 특허 (2) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. [한국] 인시츄 X선 회절 및 전위기의 연동을 통한 분석 기기 및 이를 이용한 분석 방법 | 성영은, 박정진, 김천중, 이종식, 박재혁
  2. [한국] X-선 회절 분석을 위해 평탄한 샘플을 클램핑하고 온도 제어하기 위한 장치 | 크리엘레 아르민

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