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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0153012 (2020-11-16) | |
공개번호 | 10-2022-0066696 (2022-05-24) | |
등록번호 | 10-2479995-0000 (2022-12-16) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200153012 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2020-11-16) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
신소자 테스트 시스템이 개시된다. 상기 시스템은, 하나 이상의 단위 셀 테스트 어레이;를 포함하는 어레이 테스트 패턴; 및 상기 어레이 테스트 패턴에 신호를 인가하기 위한 디멀티플렉서;를 포함할 수 있다. 상기 단위 셀 테스트 어레이는, 트랜지스터;를 포함하고, 상기 트랜지스터에는 BEOL 공정을 통해 테스트 대상이 되는 신소자가 집적될 수 있다.
단위 셀들이 행렬로 배열된 테스트 어레이; 및상기 테스트 어레이에 신호를 인가하기 위한 디멀티플렉서;를 포함하며,상기 단위 셀들 각각은 트랜지스터, 상기 트랜지스터 상에 배치되고 상기 트랜지스터에 전기적으로 연결된 신소자를 포함하고,상기 단위 셀들 각각은:상기 테스트 어레이의 각 행의 트랜지스터들의 게이트에 전기적으로 연결된 워드라인;상기 테스트 어레이의 각 열의 트랜지스터들의 소스에 전기적으로 연결된 소스라인; 및,상기 테스트 어레이의 각 열의 트랜지스터들의 드레인에 전기적으로 연결된 비트라인을 포함하며,상기 신소자는 상기 비트라
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