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연합인증

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[한국특허] 신소자 테스트 시스템 및 신소자 테스트 방법
NEW DEVICE TEST SYSTEM AND THE NEW DEVICE TEST METHOD
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IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-031/3183
  • G01R-031/317
출원번호 10-2020-0153012 (2020-11-16)
공개번호 10-2022-0066696 (2022-05-24)
등록번호 10-2479995-0000 (2022-12-16)
DOI http://doi.org/10.8080/1020200153012
발명자 / 주소
  • 이희덕 / 대전광역시 서구 둔산북로 ***, *동 ***호(둔산동, 햇님아파트)
  • 송형섭 / 대전광역시 대덕구 대청로***번길 **(미호동)
  • 최현웅 / 대전광역시 유성구 대학로 **(봉명동)
출원인 / 주소
  • 충남대학교 산학협력단 / 대전광역시 유성구 대학로 ** (궁동, 충남대학교)
대리인 / 주소
  • 권혁수; 송윤호
심사청구여부 있음 (2020-11-16)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

신소자 테스트 시스템이 개시된다. 상기 시스템은, 하나 이상의 단위 셀 테스트 어레이;를 포함하는 어레이 테스트 패턴; 및 상기 어레이 테스트 패턴에 신호를 인가하기 위한 디멀티플렉서;를 포함할 수 있다. 상기 단위 셀 테스트 어레이는, 트랜지스터;를 포함하고, 상기 트랜지스터에는 BEOL 공정을 통해 테스트 대상이 되는 신소자가 집적될 수 있다.

대표청구항

단위 셀들이 행렬로 배열된 테스트 어레이; 및상기 테스트 어레이에 신호를 인가하기 위한 디멀티플렉서;를 포함하며,상기 단위 셀들 각각은 트랜지스터, 상기 트랜지스터 상에 배치되고 상기 트랜지스터에 전기적으로 연결된 신소자를 포함하고,상기 단위 셀들 각각은:상기 테스트 어레이의 각 행의 트랜지스터들의 게이트에 전기적으로 연결된 워드라인;상기 테스트 어레이의 각 열의 트랜지스터들의 소스에 전기적으로 연결된 소스라인; 및,상기 테스트 어레이의 각 열의 트랜지스터들의 드레인에 전기적으로 연결된 비트라인을 포함하며,상기 신소자는 상기 비트라

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