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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0163242 (2020-11-27) | |
공개번호 | 10-2022-0074581 (2022-06-03) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200163242 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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법적상태 | 공개 |
본 발명의 일 실시예에 따른 전극 노칭 방법은, 전극 시트를 기설정된 주기로 노칭하고 각 노칭마다 일정 개수의 탭이 형성되는 노칭 단계; 연속 실시된 노칭에 의해 형성된 복수개의 탭의 피치를 측정하는 측정 단계; 상기 측정 단계에서 측정된 복수개의 피치 데이터를, 항상 일정하게 유지되는 제1피치 데이터 및 상기 제1피치 데이터와 상이하며 일정 간격마다 반복되는 제2피치 데이터로 구분하는 구분 단계; 및 상기 제2피치 데이터와 상기 제1피치 데이터의 차이가 줄어들도록 노칭 주기 또는 상기 전극 시트의 이동 속도 중 적어도 하나를 보정
전극 시트를 기설정된 주기로 노칭하고 각 노칭마다 일정 개수의 탭이 형성되는 노칭 단계;연속 실시된 노칭에 의해 형성된 복수개의 탭의 피치를 측정하는 측정 단계;상기 측정 단계에서 측정된 복수개의 피치 데이터를, 항상 일정하게 유지되는 제1피치 데이터 및 상기 제1피치 데이터와 상이하며 일정 간격마다 반복되는 제2피치 데이터로 구분하는 구분 단계; 및상기 제2피치 데이터와 상기 제1피치 데이터의 차이가 줄어들도록 노칭 주기 또는 상기 전극 시트의 이동 속도 중 적어도 하나를 보정하는 보정 단계를 포함하는 전극 노칭 방법.
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