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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0177057 (2020-12-17) | |
공개번호 | 10-2022-0086871 (2022-06-24) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200177057 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2020-12-17) | |
심사진행상태 | 거절결정(일반) | |
법적상태 | 거절 |
본 발명은 양전극과 음전극이 서로 번갈아 가면서 적층된 2차전지의 전극들간의 정렬 상태를 검사하는 전극 정렬 상태 검사 장치로서, 2차전지가 안착되고, 전극의 적층 방향으로 승강가능한 전지안착부; X선을 2차전지의 측면에 대해 경사지게 조사하고, 전지안착부의 승강시, X선이 투과되는 2차전지의 측면을 연속 촬영하여, 2차전지의 측면에 대한 복수의 촬영영상을 획득하는 엑스레이촬영부; 및 복수의 촬영영상이 CT영상처리기술에 의해 재구성처리되어, 2차전지의 리드탭에 의해 가려진 부분이 제거된 검사영상으로 출력되는 검사처리부를 포함하는 것
양전극과 음전극이 서로 번갈아 가면서 적층된 2차전지의 전극들간의 정렬 상태를 검사하는 전극 정렬 상태 검사 장치에 있어서, 상기 2차전지가 안착되고, 상기 전극의 적층 방향으로 승강가능한 전지안착부; X선을 상기 2차전지의 측면에 대해 경사지게 조사하고, 상기 전지안착부의 승강시, 상기 X선이 투과되는 상기 2차전지의 측면을 연속 촬영하여, 상기 2차전지의 측면에 대한 복수의 촬영영상을 획득하는 엑스레이촬영부; 및 상기 복수의 촬영영상이 CT영상처리기술에 의해 재구성처리되어, 상기 2차전지의 리드탭에 의해 가려진 부분이 제거된 검
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