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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-0181330 (2020-12-22) | |
공개번호 | 10-2021-0145652 (2021-12-02) | |
등록번호 | 10-2684260-0000 (2024-07-08) | |
우선권정보 | 대한민국(KR) 1020200062458 (2020-05-25) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020200181330 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2022-10-06) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 중수소 치환 시료의 1H-NMR 스펙트럼의 정보를 이용하여, 상기 중수소 치환 시료의 위치별 중수소 치환율 분석 방법을 제공하기 위한 것이다.
중수소 치환 시료의 1H-NMR 스펙트럼을 얻는 단계(단계 1); 및상기 1H-NMR 스펙트럼의 정보로 하기 수학식 1로부터 상기 중수소 치환 시료의 위치별 중수소 치환율([D%]p)을 계산하는 단계(단계 2)를 포함하는,중수소 치환 시료의 위치별 중수소 치환율 분석 방법:[수학식 1][D%]p = 100 - ((100 - [D%]) × Ap × H) / (A × Hp)상기 수학식 1에서, [D%]는 상기 중수소 치환 시료의 평균 중수소 치환율이고,Ap는 상기 1H-NMR 스펙트럼에서 상기 위치의 피크의 적분 값이고, H는 상기 중
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