초록 ▼

본 발명은 샘플(10)의 광발광 측정 방법에 관한 것으로서, 상기 샘플(10)은 윤곽 C에 의해 연결된 전면(11) 및 후면(12)을 포함하고, 상기 샘플(10)은 상기의 후면(12)을 통해 활성 베이스(20)의 수용면(21) 상에 놓이고, 상기 샘플(10)은 제1 영역(13)을 포함하며, 상기 제1 영역(13)은 상기 윤곽 C에 의해 부분적으로 범위가 정해지고, 임의의 포인트에서 상기 샘플(10)의 상기 광발광 신호의 평균 세기 (이는 참조 세기로 지칭됨)보다 더 낮은 세기 (이는 제1 세기로 지칭됨)의 광발광 신호를 방출하고,

본 발명은 샘플(10)의 광발광 측정 방법에 관한 것으로서, 상기 샘플(10)은 윤곽 C에 의해 연결된 전면(11) 및 후면(12)을 포함하고, 상기 샘플(10)은 상기의 후면(12)을 통해 활성 베이스(20)의 수용면(21) 상에 놓이고, 상기 샘플(10)은 제1 영역(13)을 포함하며, 상기 제1 영역(13)은 상기 윤곽 C에 의해 부분적으로 범위가 정해지고, 임의의 포인트에서 상기 샘플(10)의 상기 광발광 신호의 평균 세기 (이는 참조 세기로 지칭됨)보다 더 낮은 세기 (이는 제1 세기로 지칭됨)의 광발광 신호를 방출하고, 상기 활성 베이스(20)는 상기 참조 세기와 적어도 동일한 세기 (이는 제2 세기로 지칭됨)의 광발광 신호를 방출하고, 상기 활성 베이스(20)는 에지 B를 포함하며, 상기 에지 B는 상기 윤곽 C로부터 돌출 거리만큼 이격되어 놓이고, 상기 윤곽 C와 함께 상기 활성 베이스(20)의 주변 구역(24)의 범위를 정한다.

대표청구항 ▼

샘플(10)의 광발광 측정 방법으로서, 상기 샘플(10)은 윤곽(contour) C에 의해 연결된, 각각 전면(11) 및 후면(12)으로 지칭되는 2개의 면을 포함하며, 상기 샘플(10)은 이의 후면(12)에서, 활성 베이스 플레이트(active base plate; 20)로 지칭되는 베이스 플레이트의 수용면(accommodating face; 21) 상에 놓이고,상기 샘플(10)은 적어도 1개의 제1 영역(13)을 포함하며, 상기 제1 영역(13)은 상기 윤곽 C에 의해 부분적으로 범위가 정해지고, 임의의 포인트에서 상기 샘플(1

샘플(10)의 광발광 측정 방법으로서, 상기 샘플(10)은 윤곽(contour) C에 의해 연결된, 각각 전면(11) 및 후면(12)으로 지칭되는 2개의 면을 포함하며, 상기 샘플(10)은 이의 후면(12)에서, 활성 베이스 플레이트(active base plate; 20)로 지칭되는 베이스 플레이트의 수용면(accommodating face; 21) 상에 놓이고,상기 샘플(10)은 적어도 1개의 제1 영역(13)을 포함하며, 상기 제1 영역(13)은 상기 윤곽 C에 의해 부분적으로 범위가 정해지고, 임의의 포인트에서 상기 샘플(10)의 광발광 신호의 평균 세기 (이는 참조 세기로 지칭됨)보다 더 낮은 세기 (이는 제1 세기로 지칭됨)로 광발광 신호를 방출하고,상기 활성 베이스 플레이트(20)는 상기 참조 세기와 적어도 동일한 세기 (이는 제2 세기로 지칭됨)로 광발광 신호를 방출하고, 상기 활성 베이스 플레이트(20)는, 상기 윤곽 C로부터의 돌출 거리(projection distance)에 따른 거리에서 상기 윤곽 C와 함께 상기 활성 베이스 플레이트(20)의 주변 구역(24)의 범위를 정하는 에지(edge) B를 추가로 포함하는, 측정 방법.