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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2020-7018739 (2020-06-29) | |
공개번호 | 10-2020-0090240 (2020-07-28) | |
등록번호 | 10-2435880-0000 (2022-08-19) | |
우선권정보 | 중국(CN) 201810712771.1 (2018-06-29) | |
국제출원번호 | PCT/CN2019/084055 (2019-04-24) | |
국제공개번호 | WO 2020/001145 (2020-01-02) | |
번역문제출일자 | 2020-06-29 | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020207018739 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2020-06-29) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
기판 및 기판 상에 배치된 복수의 포토다이오드를 포함하는 평판 검출기가 제공되고, 이 평판 검출기는 기판으로부터 떨어진 포토다이오드들의 측면에 배치된 제1 투명 전도성 층을 추가로 포함한다.기판 상의 제1 투명 전도성 층의 정사 투영은 기판 상의 각각의 포토다이오드의 정사 투영과 적어도 부분적으로 중첩된다.평판 검출기는 외부 정전기의 영향을 완화하거나 감소시키고 동작 안정성을 향상시킬 수 있다.
기판 및 상기 기판 상의 복수의 포토다이오드를 포함하는 평판 검출기로서,상기 평판 검출기는 상기 기판으로부터 떨어진 상기 복수의 포토다이오드의 측면 상에 배열된 제1 투명 전도성 층을 추가로 포함하고, 상기 기판 상의 상기 제1 투명 전도성 층의 정사 투영(orthographic projection)은 상기 기판 상의 상기 복수의 포토다이오드의 각각의 포토다이오드의 정사 투영과 적어도 부분적으로 중첩되고,상기 제1 투명 전도성 층은 복수의 전도성 패턴을 포함하고, 상기 복수의 전도성 패턴은 전도성 접속부들에 의해 함께 접속되는, 평
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