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연합인증

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평판 검출기 및 그 제조 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-027/146
출원번호 10-2020-7018739 (2020-06-29)
공개번호 10-2020-0090240 (2020-07-28)
등록번호 10-2435880-0000 (2022-08-19)
우선권정보 중국(CN) 201810712771.1 (2018-06-29)
국제출원번호 PCT/CN2019/084055 (2019-04-24)
국제공개번호 WO 2020/001145 (2020-01-02)
번역문제출일자 2020-06-29
DOI http://doi.org/10.8080/1020207018739
발명자 / 주소
  • 장, 융 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 화, 강 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 쉐, 옌나 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 린, 젠 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 바오, 즈잉 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 미, 레이 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 바이, 루 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 팡, 하오보 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 왕, 징펑 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
  • 장, 리민 / 중국 ****** 베이징 비디에이 디쩌 로드 넘버 *
출원인 / 주소
  • 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 / 중국 베이징 ******, 차오양 디스트릭트, 지우시앙치아오 로드 **호
  • 베이징 비오이 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 / 중국 베이징 ****** 비디에이 시환중로 *호
대리인 / 주소
  • 양영준; 김성운; 백만기
심사청구여부 있음 (2020-06-29)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

기판 및 기판 상에 배치된 복수의 포토다이오드를 포함하는 평판 검출기가 제공되고, 이 평판 검출기는 기판으로부터 떨어진 포토다이오드들의 측면에 배치된 제1 투명 전도성 층을 추가로 포함한다.기판 상의 제1 투명 전도성 층의 정사 투영은 기판 상의 각각의 포토다이오드의 정사 투영과 적어도 부분적으로 중첩된다.평판 검출기는 외부 정전기의 영향을 완화하거나 감소시키고 동작 안정성을 향상시킬 수 있다.

대표청구항

기판 및 상기 기판 상의 복수의 포토다이오드를 포함하는 평판 검출기로서,상기 평판 검출기는 상기 기판으로부터 떨어진 상기 복수의 포토다이오드의 측면 상에 배열된 제1 투명 전도성 층을 추가로 포함하고, 상기 기판 상의 상기 제1 투명 전도성 층의 정사 투영(orthographic projection)은 상기 기판 상의 상기 복수의 포토다이오드의 각각의 포토다이오드의 정사 투영과 적어도 부분적으로 중첩되고,상기 제1 투명 전도성 층은 복수의 전도성 패턴을 포함하고, 상기 복수의 전도성 패턴은 전도성 접속부들에 의해 함께 접속되는, 평

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. [한국] 엑스레이 검출용 포토다이오드 및 이의 제조방법 | 이종문, 김영식, 김주한, 조재형
  2. [한국] 엑스레이 검출기용 어레기 기판 및 제조방법 | 조재형, 류상철, 김주한, 이종문
  3. [한국] 평판 x-선 영상기에서의 포토다이오드 및 기타 센서 구조물, 및 박막 전자 회로에 기초하여 평판 x-선 영상기에서의 포토다이오드 및 기타 센서 구조물의 토폴로지적 균일성을 향상시키는 방법 | 안토넉, 래리, 이.
  4. [일본] PHOTOELECTRIC CONVERSION SUBSTRATE, RADIATION DETECTOR, AND RADIATION IMAGE CAPTURING APPARATUS | NISHINO NAOYUKI, SATO KEIICHIRO, OTA YASUYOSHI, NAKATSUGAWA HARUYASU
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