대상이 되는 이차전지 자체의 특성 파라미터의 초기 측정 결과가 없는 경우에도, 해당 이차전지의 열화 상태를 판정할 수 있는 장치 등을 제공한다. 이차전지(220)의 특성을 나타내는 복수의 특성 파라미터 p 각각의 이번 측정값 p(k)이 초기 특성 모델에 입력됨으로써, 해당 초기 특성 모델의 출력으로서 제1 특성 파라미터의 초기 특성 추정값 p1(0←k)이 계산된다. 제1 특성 파라미터의 측정값 p1(k)의 이번 시계열 P1(i)에 기반하여, 대상의 이번 상태를 나타내는 제1 지표값 F1(i)이 계산된다. 제1 특성 파라미터의 초기
대상이 되는 이차전지 자체의 특성 파라미터의 초기 측정 결과가 없는 경우에도, 해당 이차전지의 열화 상태를 판정할 수 있는 장치 등을 제공한다. 이차전지(220)의 특성을 나타내는 복수의 특성 파라미터 p 각각의 이번 측정값 p(k)이 초기 특성 모델에 입력됨으로써, 해당 초기 특성 모델의 출력으로서 제1 특성 파라미터의 초기 특성 추정값 p1(0←k)이 계산된다. 제1 특성 파라미터의 측정값 p1(k)의 이번 시계열 P1(i)에 기반하여, 대상의 이번 상태를 나타내는 제1 지표값 F1(i)이 계산된다. 제1 특성 파라미터의 초기 특성 추정값 p1(0←k)의 이번 시계열 P1(0←k,i)에 기반하여 대상의 과거 상태를 나타내는 제2 지표값 F2(i)이 계산된다. 제1 지표값 F1(i) 및 제2 지표값 F2(i)에 기반하여 대상의 열화 상태가 판정된다.
대표청구항▼
프로세서에 의해 구성되어 있는 제1 연산 처리 요소, 제2 연산 처리 요소 및 제3 연산 처리 요소를 구비하고, 상기 제1 연산 처리 요소가, 이차전지에 접속되어 있는 전압 센서 및 전류 센서 각각의 출력에 기반하여, 상기 이차전지의 특성을 나타내는 복수의 특성 파라미터로서의 전압(V) 및 전류(I) 각각의 측정값을 취득하고, 상기 복수의 특성 파라미터(V,I) 각각의 판정 대상 시점(k)의 측정값으로서의 이번 측정값 (V(k),I(k))에 기반하여, 상기 복수의 특성 파라미터(V,I)를 주변수로 하는, 상기 이차전지와 동일 규격의
프로세서에 의해 구성되어 있는 제1 연산 처리 요소, 제2 연산 처리 요소 및 제3 연산 처리 요소를 구비하고, 상기 제1 연산 처리 요소가, 이차전지에 접속되어 있는 전압 센서 및 전류 센서 각각의 출력에 기반하여, 상기 이차전지의 특성을 나타내는 복수의 특성 파라미터로서의 전압(V) 및 전류(I) 각각의 측정값을 취득하고, 상기 복수의 특성 파라미터(V,I) 각각의 판정 대상 시점(k)의 측정값으로서의 이번 측정값 (V(k),I(k))에 기반하여, 상기 복수의 특성 파라미터(V,I)를 주변수로 하는, 상기 이차전지와 동일 규격의 참조 이차전지의 초기 특성을 나타내는 초기 특성 모델을 나타내는 다변수 함수(G)에 따라서, 상기 초기 특성 모델의 출력으로서 상기 복수의 특성 파라미터 (V,I) 중 제1 특성 파라미터로서의 전압(V)의 판정 대상 시점(k)보다 과거의 초기 시점(0)의 값을 초기 특성 추정값(V(0←k))으로서 계산하고, 상기 제2 연산 처리 요소가, 상기 제1 연산 처리 요소에 의해 취득된 상기 제1 특성 파라미터 측정값(V(k))에 기반하여, 상기 제1 특성 파라미터(V)를 주변수로 하는 지정 함수(f) 값(f(V(k)))을 계산하고, 상기 판정 대상 시점(k)을 포함하는 판정 대상 기간에 걸친 지정 함수(f) 값의 누적값(Σkf(V(k))) 또는 적분값을 상기 이차전지의 이번 상태를 나타내는 제1 지표값(F1)으로서 계산하고, 또한, 상기 제1 연산 처리 요소에 의해 계산된 상기 제1 특성 파라미터의 초기 특성 추정값(V(0←k))에 기반하여, 상기 지정 함수(f) 값(f(V(0←k)))을 계산하고, 상기 지정 함수(f) 값(f(V(0←k)))의 상기 판정 대상 기간에 걸친 누적값(Σkf(V(0←k))) 또는 적분값을 상기 이차전지의 초기 상태를 나타내는 제2 지표값(F2)으로서 계산하며,상기 제3 연산 처리 요소가, 상기 제2 연산 처리 요소에 의해 계산된 상기 제1 지표값(F1) 및 상기 제2 지표값(F2)의 편차가 클수록, 상기 이차전지의 초기 상태를 기준으로 한 열화도가 높아지는 계산식에 따라 당해 열화도(D)를 계산하는 것을 특징으로 하는 열화 상태 판정 장치.
연구과제 타임라인
LOADING...
LOADING...
LOADING...
LOADING...
LOADING...
이 특허에 인용된 특허 (2)
[일본]
DEVICE FOR ESTIMATING DEGREE OF DETERIORATION IN BATTERY |
SHIRAGA MITSUO
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.