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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2021-0036919 (2021-03-22) | |
등록번호 | 10-2430493-0000 (2022-08-03) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020210036919 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2021-03-22) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 레이저를 지면(地面)에 대해 수평하게 조사하여 전극의 일측 변에 전극탭을 노칭 가공함으로써 노칭 가공 공정에서 발생하는 스크랩 및 이물질의 제거가 용이하며, 생산성과 정밀도를 향상시킬 수 있는 이차전지 제조용 레이저 노칭 시스템에 관한 것으로, 본 발명에 따른 이차전지 제조용 레이저 노칭 시스템은, 레이저를 조사하는 레이저 조사기; 상기 레이저 조사기의 일측에 고정되게 설치되는 지그베이스; 외면에 전극이 밀착되면서 안내되고 일측부 또는 양측부 외면에 레이저가 통과하는 탭가공홀이 원주방향을 따라 형성되어 있는 원통형으로 이
레이저를 조사하는 레이저 조사기;상기 레이저 조사기의 일측에 고정되게 설치되는 지그베이스;외면에 전극이 밀착되면서 안내되고 일측부 또는 양측부 외면에 레이저가 통과하는 탭가공홀이 원주방향을 따라 형성되어 있는 원통형으로 이루어지며, 양측 중심부에 상기 지그베이스에 회전 가능하게 연결되는 회전축이 마련되어, 상기 회전축을 중심으로 회전 운동하면서 전극을 지지함과 동시에 안내하는 패턴지그; 및,상기 패턴지그의 회전축에 회전력을 전달하여 패턴지그를 회전시키는 회동유닛; 을 포함하고, 상기 패턴지그는, 외면에 상기 전극이 밀착되면서 감겨져
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