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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2021-0089920 (2021-07-08) | |
공개번호 | 10-2023-0009198 (2023-01-17) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020210089920 | |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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법적상태 | 공개 |
본 발명은 전지의 용접 상태 검사 방법에 관한 것으로, 원통형 전지의 전극의 상태를 비파괴로 신속하게 검사 가능한 전지의 용접 상태 검사 방법을 제공하기 위한 것이다.
제1 집전체, 제1 분리막, 제2 집전체 및 제2 분리막 순으로 적층되어 와인딩됨으로써, 상하방향으로 연장되는 원통 형상의 젤리롤;상기 젤리롤의 상단부에 결합되고 하측 면에 상기 제1 집전체가 제1 용접되는 제1 집전판;상기 젤리롤의 하단부에 결합되고 상측 면에 상기 제2 집전체가 제2 용접되는 제2 집전판을 포함하는 원통형 전지의 용접 상태를 검사하는 전지의 용접 상태 검사 방법에 있어서,상기 제1 집전판의 상측 면에 제1 프로브 유니트를 접촉하여 저항을 측정하는 제1 측정 단계;상기 제2 집전판의 하측 면에 제2 프로브 유니트를
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