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| 국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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| 국제특허분류(IPC8판) |
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| 출원번호 | 10-2021-0102046 (2021-08-03) | |
| 공개번호 | 10-2023-0020221 (2023-02-10) | |
| 등록번호 | 10-2630749-0000 (2024-01-24) | |
| DOI | http://doi.org/10.8080/1020210102046 | |
| 발명자 / 주소 |
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| 출원인 / 주소 |
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| 대리인 / 주소 |
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| 심사청구여부 | 있음 (2021-08-03) | |
| 심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
| 법적상태 | 등록 |
본 발명은 전극을 이송하는 과정에서 전극을 곡면형의 지그에 밀착시켜 굴곡이 발생하지 않도록 하고, 영역스캔 카메라(area scan camera)를 적용하여 전극의 이송 과정에서 슬립 현상이 발생하더라도 정확하게 전극의 형태 및/또는 위치를 검출할 수 있는 이차전지 제조 시스템의 전극 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 이차전지 제조 시스템의 전극 측정 장치는, 전극이 이송되는 경로 상에 설치되며, 외면에 전극이 밀착되면서 진행하는 원통형의 촬영지그; 상기 촬영지그의 일측에서 촬영지그의 외면에 밀착된 전극을 촬영하는
전극이 이송되는 경로 상에 설치되며, 외면에 전극이 밀착되면서 진행하는 원통형의 촬영지그;상기 촬영지그의 양측에 배치되어 전극을 상기 촬영지그의 외면에 대해 밀착시키는 복수의 가압롤;상기 촬영지그의 일측에서 촬영지그의 외면에 밀착된 전극을 촬영하는 영역스캔 카메라; 상기 촬영지그의 직경과 상기 영역스캔 카메라의 촬영 각도 및 픽셀 개수 정보를 이용하여 상기 영역스캔 카메라에 의해 촬영되는 촬영지그 상의 곡면 영역에 대하여 픽셀 별 분해능을 산출하고, 산출된 픽셀 별 분해능에 따라 상기 영역스캔 카메라에 의해 획득된 전극 영상을 분석
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