초록 ▼

진동 구조 자이로스코프(30)는 1차 구동 전극으로부터의 자극 하에서 진동하도록 배열된 공진 구조체(10)를 포함한다. 구동 시스템은 공진 주파수에서 진동 구조체를 진동시키도록 배열된다. 자동 이득 제어 유닛(34)은 1차 구동 신호(PD)의 진폭을 변화시킨다. 컨트롤러(44)는 제1 동작 모드에서 자동 이득 제어 유닛(34)이 상한과 하한에 의해 정의된 동작 범위 사이에서 구동 신호(PD)의 진폭을 변화시키도록 자이로스코프(30)를 동작시킨다. 컨트롤러(44)는 또한 자동 이득 제어 유닛(34)이 구동 신호(PD)의 진폭을 동작

진동 구조 자이로스코프(30)는 1차 구동 전극으로부터의 자극 하에서 진동하도록 배열된 공진 구조체(10)를 포함한다. 구동 시스템은 공진 주파수에서 진동 구조체를 진동시키도록 배열된다. 자동 이득 제어 유닛(34)은 1차 구동 신호(PD)의 진폭을 변화시킨다. 컨트롤러(44)는 제1 동작 모드에서 자동 이득 제어 유닛(34)이 상한과 하한에 의해 정의된 동작 범위 사이에서 구동 신호(PD)의 진폭을 변화시키도록 자이로스코프(30)를 동작시킨다. 컨트롤러(44)는 또한 자동 이득 제어 유닛(34)이 구동 신호(PD)의 진폭을 동작 범위 밖의 미리 결정된 레벨로 설정하는 제2 동작 모드에서 자이로스코프(30)를 동작시킬 수 있다. 자이로스코프(3)가 제2 동작 모드에서 동작될 때, 컨트롤러(44)는 미리 결정된 시간 기간 후 1차 감지 신호(PP)의 진폭을 측정하고, 상기 미리 결정된 시간 기간 동안의 진동 사이클 수를 결정하고, 상기 측정된 진폭 및 진동 사이클 수로부터 자이로스코프(30)의 품질 팩터를 결정한다.

대표청구항 ▼

진동 구조 자이로스코프에 있어서,1차 구동 전극으로부터의 자극 하에서 진동하도록 배열된 공진 구조체;상기 진동 구조체를 공진 주파수에서 진동하도록 배열된 구동 시스템으로서, 상기 구동 시스템은 상기 진동 구조체에서 모션을 유도하도록 배열된 상기 1차 구동 전극, 및 상기 진동 구조체에서 모션을 감지하도록 배열된 1차 감지 전극을 포함하는, 상기 구동 시스템;상기 1차 구동 전극에 인가된 구동 신호의 진폭을 변화시키도록 배열된 자동 이득 제어 유닛; 및성가 자이로스코프를 동작시키도록 배열된 컨트롤러로서,제1 동작 모드에서, 상기 자동

진동 구조 자이로스코프에 있어서,1차 구동 전극으로부터의 자극 하에서 진동하도록 배열된 공진 구조체;상기 진동 구조체를 공진 주파수에서 진동하도록 배열된 구동 시스템으로서, 상기 구동 시스템은 상기 진동 구조체에서 모션을 유도하도록 배열된 상기 1차 구동 전극, 및 상기 진동 구조체에서 모션을 감지하도록 배열된 1차 감지 전극을 포함하는, 상기 구동 시스템;상기 1차 구동 전극에 인가된 구동 신호의 진폭을 변화시키도록 배열된 자동 이득 제어 유닛; 및성가 자이로스코프를 동작시키도록 배열된 컨트롤러로서,제1 동작 모드에서, 상기 자동 이득 제어 유닛은 하한과 상한에 의해 정의된 동작 범위 사이에서 상기 구동 신호의 진폭을 변화시키고;제2 동작 모드에서, 상기 자동 이득 제어 유닛은 상기 구동 신호의 상기 진폭을 상기 동작 범위 밖의 미리 결정된 레벨로 설정하도록 하는, 상기 컨트롤러를 포함하며;상기 자이로스코프가 상기 제2 동작 모드에서 동작될 때, 상기 컨트롤러는,미리 결정된 시간 기간 후 상기 1차 감지 전극으로부터의 감지 신호의 진폭을 측정하고;상기 미리 결정된 시간 기간 동안 진동 사이클 수를 결정하고;상기 측정된 진폭 및 진동 사이클 수로부터 상기 자이로스코프의 품질 팩터를 결정하는, 진동 구조 자이로스코프.