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[한국특허] 반도체용 화학용기의 잔량검출 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개실용신안
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/22
출원번호 20-1996-0004184 (1996-03-07)
공개번호 20-1997-0056054 (1997-10-13)
DOI http://doi.org/10.8080/2019960004184
발명자 / 주소
  • 안낙준 / 경기도 수원시 팔달구 우만동 ***-* 영남빌라 나동 ***호
  • 박병호 / 경기도 용인군 기흥읍 고매리 산 ***-* 세원아파트 ***동 ***호
출원인 / 주소
  • 삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 매탄동 ***
대리인 / 주소
  • 권석흠; 노민식; 이영필 (KWON, Suk Heum)
  • 서울 강남구 역삼동 ***-** 서림빌딩**층 (유미특허법인); 서울 서초구 서초*동 ****-** 청화빌딩 이영필 특허법률사무소; 서울 서초구 서초동 ****-* (리앤목 특허법인)
심사청구여부 있음 (1996-03-07)
심사진행상태 거절결정(일반)
법적상태 거절

초록

[청구범위]B레벨 센서의 수광부와 발광부를 화학용기의 측벽에 설치하여 화학용기에 담겨진 화학액의 잔량이 소정레벨 이하로 되는 것을 감지하도록 된 반도체용 화학용기의 잔량검출 장치에 있어서, 상기화학용기의 무게를 감지하여 표시하는 무게 센서를 추가로 더 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체용 화학용기의 잔량검출 장치.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

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